離子散射能譜英文解釋翻譯、離子散射能譜的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 ion scattering spectroscopy; ISS

分詞翻譯：

離子的英語翻譯：

ion
【化】 ion
【醫】 ion

散射的英語翻譯：

scatter; scattering
【計】 scattering
【化】 scatter; scattering
【醫】 radiation scattered; scatter; scattering

能譜的英語翻譯：

【化】 energy spectrum

專業解析

離子散射能譜（Ion Scattering Spectroscopy，ISS）是一種基于離子與固體表面原子相互作用原理的表征技術，主要用于分析材料表面成分及結構。當高能離子束（如氦離子或氩離子）入射到樣品表面時，其與表層原子發生彈性碰撞，通過測量散射離子的能量分布，可反推出表面原子的質量、排列方式及化學狀态。

該技術的特點包括：

單層靈敏度：僅探測最外層1-3個原子層，適用于表面吸附研究和薄膜分析。
元素特異性：散射能量與靶原子質量平方成反比，可通過公式
$$ frac{E}{E_0} = left( frac{cosθ + sqrt{(M_2/M_1) - sinθ}}{1 + M_2/M_1} right)

$$

精确區分元素（(E_0)為入射能量，(M_1)、(M_2)分别為入射離子和靶原子質量）。

非破壞性檢測：采用低劑量離子束時可保持樣品完整性。

在半導體工藝和催化劑研發中，ISS常與X射線光電子能譜（XPS）聯用，實現表面成分與化學态的綜合分析。其發展可追溯至1967年Smith的開拓性實驗，現已被納入ISO 18118國際标準作為表面分析标準方法。

網絡擴展解釋

離子散射能譜（Ion Scattering Spectroscopy, ISS）是一種通過分析入射離子與材料表面原子彈性碰撞後的能量分布，來獲取表面成分和結構信息的技術。以下是其核心要點：

1.基本原理

離子與表面原子發生彈性碰撞時，遵循能量和動量守恒定律。散射離子的能量損失與靶原子的質量相關，通過測量散射離子的動能分布，可反推出表面原子的種類和質量。

能量關系公式（以散射角θ=90°為例）：
$$
frac{E}{E_0} = left( frac{M_2 - M_1}{M_2 + M_1} right)
$$
其中，(E_0)為入射離子初始能量，(E)為散射後能量，(M_1)和(M_2)分别為入射離子與靶原子的質量。

2.技術分類

根據入射離子能量分為兩類：

低能離子散射譜（ISS）：
能量範圍100 eV至幾千eV，主要用于最表層（1-3原子層）的成分分析，靈敏度高。
高能離子散射譜（RBS，盧瑟福背散射譜）：
能量範圍25 keV至幾MeV，可分析更深層結構（微米級），常用于單晶材料的溝道效應研究和界面分析。

3.應用特點

元素分析：可檢測除氫、氦外的所有元素及同位素。
表面敏感性：ISS尤其適合單原子層分析，RBS則能提供深度分布信息。
非破壞性：適用于薄膜、半導體等材料的表面表征。

4.局限性

低能ISS的中和效應顯著，需考慮離子與表面電子的相互作用。
對輕元素（如H、He）檢測能力有限。

如需進一步了解實驗裝置或具體案例，可參考、6、8的原始資料。