
【計】 critical defect
critical
【醫】 crisis
blemish; bug; defect; drawback; flaw; limitation; objection; vice
【化】 imperfection
【醫】 defect; vitium
【經】 defective
臨界缺陷(Critical Defect)在漢英詞典中通常被定義為"對産品功能、安全性或合規性構成直接威脅的缺陷,其存在将導緻整體系統或物品被判定為不可接受"。《牛津漢英雙解技術詞典》将其對應為"a flaw reaching the threshold of rejection in quality control systems"。該術語常見于以下三大應用領域:
制造業質量控制
指産品尺寸偏差超出公差範圍但未完全失效的狀态,如精密零件尺寸誤差達到标準允許的極限值(參考ISO 9001:2015質量管理體系術語)。
軟件開發領域
在IEEE 610.12-1990标準中被描述為"導緻系統核心功能中斷且無法通過臨時方案規避的代碼缺陷",例如航空控制系統中的數據傳輸延遲達到安全阈值。
醫療設備監管
根據FDA 21 CFR 820質量體系規範,特指可能直接造成誤診或治療風險的設備異常,如影像設備的輻射劑量輸出值觸及法定安全邊界。
該術語的判定需滿足三個核心要素:可測量性(量化指标)、不可逆性(無法通過調整修複)、後果直接性(與最終失效存在明确因果關系)。在工程實踐中,常用故障樹分析(FTA)和風險優先數(RPN)評估體系進行分級管理。
“臨界缺陷”是材料科學和物理學中的一個專業術語,主要描述在特定條件下(如高能粒子或電磁波作用)導緻材料關鍵性能發生突變的缺陷現象。以下是詳細解釋:
臨界缺陷指超導材料等特殊物質在受到高能輻照時,其臨界超導參數(如臨界溫度、臨界電流)和晶體結構發生不可逆變化的缺陷。這種缺陷會顯著影響材料的超導性能,甚至導緻超導态失穩。
常見的輻照源包括:
臨界缺陷的研究不僅限于超導材料,在半導體、合金等領域也涉及類似概念,但具體表現和機制因材料而異。例如,半導體中的臨界缺陷可能指摻雜濃度達到阈值時電學性質的突變。
如需進一步了解超導輻照效應的具體實驗數據或理論模型,可查閱知網空間相關文獻(參考)。
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