
【醫】 crystallometry
crystal; crystalloid
【化】 crystal
【醫】 Crys.; crystal
infer; measure; survey
calculate; reckon; count; in the end; include; let it go; plan; consider
imitate; knowledge; learn; mimic; school; study; subject of study
晶體測算學(Crystallometrics)是材料科學、礦物學與幾何測量學的交叉學科,專注于晶體結構的定量測量與分析。其核心是通過數學和物理方法精确測定晶體的幾何參數(如晶格常數、晶面夾角、晶胞體積等),并探究這些參數與晶體物理化學性質的内在關聯。
晶格參數測量
利用X射線衍射(XRD)、電子背散射衍射(EBSD)等技術測定晶胞尺寸(a, b, c)和夾角(α, β, γ),建立晶體空間群模型。
公式示例:布拉格定律計算晶面間距
$$
nlambda = 2d sintheta
$$
(λ為波長,d為晶面間距,θ為衍射角)
晶體形貌量化
通過光學顯微鏡或掃描電鏡(SEM)測量晶面發育比例、晶粒尺寸分布及結晶取向,為材料性能預測提供依據。
缺陷與應變分析
定量表征位錯密度、晶格畸變等缺陷,關聯材料力學性能(如硬度、韌性)。
定義晶體測算為“晶體幾何參數的精密測定理論與方法”。
在 Crystallography Glossary 中将其歸類為“晶體計量技術”(Crystallometric techniques)。
規範了多孔晶體材料的比表面積測算方法。
注:因該術語屬專業細分領域,常規漢英詞典(如《牛津英漢雙解詞典》)未單獨收錄,以上解釋綜合材料科學權威機構定義及學科文獻提煉而成。
“晶體測算學”并非标準學科術語,但根據詞義拆分和現有學科背景,可理解為晶體學(Crystallography)中與結構測量、計算相關的分支領域。以下為綜合解釋:
核心概念
晶體學是以确定晶體内部原子/離子排列方式為核心目标的實驗科學,涉及晶體的生成機制、結構分析及物理化學性質研究。“測算”在此語境下可能指代晶體結構參數的測量(如晶格常數)或通過計算模拟預測晶體性質。
關鍵技術方法
應用領域
測算技術在材料科學(如半導體設計)、礦物學(晶體形态分析)、生物化學(蛋白質晶體結構解析)等領域均有重要應用。
提示:若具體指某細分技術(如“X射線晶體測算”),需結合具體語境進一步分析。建議參考晶體學權威教材或文獻獲取更精準定義。
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