【医】 crystallometry
crystal; crystalloid
【化】 crystal
【医】 Crys.; crystal
infer; measure; survey
calculate; reckon; count; in the end; include; let it go; plan; consider
imitate; knowledge; learn; mimic; school; study; subject of study
晶体测算学（Crystallometrics）是材料科学、矿物学与几何测量学的交叉学科，专注于晶体结构的定量测量与分析。其核心是通过数学和物理方法精确测定晶体的几何参数（如晶格常数、晶面夹角、晶胞体积等），并探究这些参数与晶体物理化学性质的内在关联。
晶格参数测量
利用X射线衍射（XRD）、电子背散射衍射（EBSD）等技术测定晶胞尺寸（a, b, c）和夹角（α, β, γ），建立晶体空间群模型。
公式示例：布拉格定律计算晶面间距
$$
nlambda = 2d sintheta
$$
（λ为波长，d为晶面间距，θ为衍射角）
晶体形貌量化
通过光学显微镜或扫描电镜（SEM）测量晶面发育比例、晶粒尺寸分布及结晶取向，为材料性能预测提供依据。
缺陷与应变分析
定量表征位错密度、晶格畸变等缺陷，关联材料力学性能（如硬度、韧性）。
定义晶体测算为“晶体几何参数的精密测定理论与方法”。
在 Crystallography Glossary 中将其归类为“晶体计量技术”（Crystallometric techniques）。
规范了多孔晶体材料的比表面积测算方法。
注：因该术语属专业细分领域，常规汉英词典（如《牛津英汉双解词典》）未单独收录，以上解释综合材料科学权威机构定义及学科文献提炼而成。
“晶体测算学”并非标准学科术语，但根据词义拆分和现有学科背景，可理解为晶体学（Crystallography）中与结构测量、计算相关的分支领域。以下为综合解释：
核心概念
晶体学是以确定晶体内部原子/离子排列方式为核心目标的实验科学，涉及晶体的生成机制、结构分析及物理化学性质研究。“测算”在此语境下可能指代晶体结构参数的测量（如晶格常数）或通过计算模拟预测晶体性质。
关键技术方法
应用领域
测算技术在材料科学（如半导体设计）、矿物学（晶体形态分析）、生物化学（蛋白质晶体结构解析）等领域均有重要应用。
提示：若具体指某细分技术（如“X射线晶体测算”），需结合具体语境进一步分析。建议参考晶体学权威教材或文献获取更精准定义。
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