
【化】 Coulter counter
storeroom; warehouse
【計】 libraries; library
【醫】 bank
【經】 library
like so; you
especially; special; spy; unusual; very
【化】 tex
【機】 fineness; grading; particle size
appearance; bearing; ceremony; instrument; present
庫爾特粒度儀(Coulter Counter)是一種基于電阻法原理的顆粒計數與粒徑分析儀器,主要用于測量懸浮液中顆粒的粒徑分布及濃度。其核心原理是"電阻變化法"(Electrical Sensing Zone, ESZ):當顆粒通過一個小孔時,會置換孔内的電解液,導緻兩電極間的電阻瞬時增大,電阻變化幅度與顆粒體積成正比(公式:ΔR ∝ V),通過測量電脈沖信號即可精确計算顆粒尺寸。
庫爾特 (Coulter)
音譯自發明者Wallace H. Coulter 的姓氏,1953年其專利技術奠定了現代顆粒分析基礎。
英文對應:Coulter (patented technology)
粒度儀 (Particle Size Analyzer)
指測量顆粒尺寸分布的儀器,庫爾特法為其中一種高精度技術。
英文對應:Particle Size Analyzer / Particle Counter
顆粒懸浮液通過孔徑已知的微孔管,兩側電極施加恒定電流。顆粒通過微孔時産生電阻脈沖,脈沖高度(ΔV)與顆粒體積(V)滿足:
$$Delta V = frac{k cdot V cdot I}{sigma cdot d}$$
其中 (k) 為常數,(I) 為電流,(sigma) 為電導率,(d) 為孔徑。
典型孔徑為20–2000μm,可測粒徑範圍約0.4–1600μm(孔徑的2%–40%)。
高分辨率(可區分0.1μm差異)、直接測量體積、無需光學校準,適用于不透明顆粒(如細胞、金屬粉末)。
"Means for counting particles suspended in a fluid."
U.S. Patent 2,656,508(原始專利文獻)
"Determination of particle size distributions by electrical sensing zone method"(電阻法标準規範)
通則0903 "不溶性微粒檢查法" 明确庫爾特法為法定方法之一
注:因搜索結果未提供可直接引用的網頁鍊接,以上内容依據儀器原理的經典文獻及行業标準撰寫。建議通過學術數據庫(如IEEE Xplore、PubMed、CNKI)檢索關鍵詞"Coulter Principle" 或"Electrical Sensing Zone" 獲取詳細技術文獻。
庫爾特粒度儀是一種基于庫爾特原理(Coulter Principle)的顆粒分析儀器,主要用于測量顆粒的粒徑分布、濃度及表面性質等參數。以下是其核心原理、特點和應用領域的詳細解釋:
庫爾特原理,又稱電阻脈沖感應(Resistive Pulse Sensing, RPS),屬于電學檢測方法。
特性 | 庫爾特粒度儀 | 激光粒度儀 |
---|---|---|
原理 | 電學檢測(電阻脈沖) | 光學散射 |
分辨率 | 更高(單顆粒檢測) | 較低(群體統計) |
樣本限制 | 不受顔色、折射率影響 | 需透明、低濃度樣本 |
測量維度 | 粒徑、濃度、zeta電位 | 僅粒徑分布 |
庫爾特粒度儀通過電學原理實現高精度單顆粒檢測,尤其適合複雜樣本(如生物活性顆粒、深色材料)的多元分析。其技術優勢在納米醫藥、工業質控等領域具有不可替代性。
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