掃瞄電子颢微鏡英文解釋翻譯、掃瞄電子颢微鏡的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【機】 scanning electron microscope

分詞翻譯：

掃的英語翻譯：

besom; clear away; sweep; whisk

瞄的英語翻譯：

take aim

電子的英語翻譯：

electron
【化】 electron
【醫】 e.; electron

微的英語翻譯：

decline; profound; tiny
【計】 mic-; micro-
【醫】 micr-; micro-; mikro-; mu

鏡的英語翻譯：

lens; looking glass; mirror
【化】 mirror
【醫】 mirror; slass

專業解析

掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡稱SEM）是一種利用聚焦電子束對樣品表面進行高分辨率成像的分析儀器。其工作原理是通過電子槍發射電子束，經電磁透鏡聚焦後掃描樣品表面，探測器接收二次電子、背散射電子等信號，最終形成三維立體圖像。相較于光學顯微鏡，SEM具有更高的分辨率（通常可達1-10納米）和更大的景深，能夠清晰呈現材料表面形貌、晶體結構及微觀成分分布。

該設備主要由電子光學系統（電子槍、電磁透鏡）、真空系統、信號檢測系統（如二次電子探測器）和圖像處理系統組成。在應用層面，SEM被廣泛應用于材料科學（如金屬斷口分析）、生物醫學（細胞結構觀測）、納米技術（納米顆粒表征）以及工業質檢（半導體芯片缺陷檢測）等領域。根據《顯微分析技術标準手冊》，現代SEM還可配備能譜儀（EDS）實現元素成分的定性與半定量分析。

權威參考資料：

美國國家标準與技術研究院（NIST）電子顯微鏡技術指南
《Journal of Microscopy》2024年刊載的SEM成像原理綜述
劍橋大學材料科學系電子顯微分析公開課講義

網絡擴展解釋

掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種基于電子束與樣品相互作用原理的高分辨率顯微成像技術，廣泛應用于材料科學、生物學、工業等領域。以下從定義、工作原理、技術特點和應用四個方面進行詳細解釋：

一、定義

掃描電子顯微鏡通過聚焦的高能電子束掃描樣品表面，收集樣品激發的物理信號（如二次電子、背散射電子等），經處理後形成微觀形貌圖像。它結合了透射電子顯微鏡（TEM）和光學顯微鏡的優勢，分辨率可達1納米，放大倍數高達30萬倍。

二、工作原理

電子束掃描：電子槍發射高能電子束，經電磁透鏡聚焦成極細的電子探針，在樣品表面逐點掃描。
信號激發：電子束與樣品相互作用，産生二次電子、背散射電子、X射線等信號。
信號處理：探測器收集信號并轉換為電信號，經放大後輸入顯示器，形成反映樣品表面形貌或成分的圖像。

三、技術特點

高分辨率：最高可達1納米，優于光學顯微鏡。
景深大：成像立體感強，適合觀察粗糙表面。
多功能分析：可結合能譜儀（EDS）進行微區成分分析。

四、應用領域

材料科學：觀察金屬、陶瓷等材料的微觀結構、斷裂面形貌。
生物學：研究細胞、組織、微生物的立體形貌（需特殊樣品處理）。
工業制造：檢測半導體、電子元件的表面缺陷或鍍層質量。

如需更詳細信息，可參考相關學術文獻或儀器說明文檔。