扫瞄电子颢微镜英文解释翻译、扫瞄电子颢微镜的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【机】 scanning electron microscope

分词翻译：

扫的英语翻译：

besom; clear away; sweep; whisk

瞄的英语翻译：

take aim

电子的英语翻译：

electron
【化】 electron
【医】 e.; electron

微的英语翻译：

decline; profound; tiny
【计】 mic-; micro-
【医】 micr-; micro-; mikro-; mu

镜的英语翻译：

lens; looking glass; mirror
【化】 mirror
【医】 mirror; slass

专业解析

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）是一种利用聚焦电子束对样品表面进行高分辨率成像的分析仪器。其工作原理是通过电子枪发射电子束，经电磁透镜聚焦后扫描样品表面，探测器接收二次电子、背散射电子等信号，最终形成三维立体图像。相较于光学显微镜，SEM具有更高的分辨率（通常可达1-10纳米）和更大的景深，能够清晰呈现材料表面形貌、晶体结构及微观成分分布。

该设备主要由电子光学系统（电子枪、电磁透镜）、真空系统、信号检测系统（如二次电子探测器）和图像处理系统组成。在应用层面，SEM被广泛应用于材料科学（如金属断口分析）、生物医学（细胞结构观测）、纳米技术（纳米颗粒表征）以及工业质检（半导体芯片缺陷检测）等领域。根据《显微分析技术标准手册》，现代SEM还可配备能谱仪（EDS）实现元素成分的定性与半定量分析。

权威参考资料：

美国国家标准与技术研究院（NIST）电子显微镜技术指南
《Journal of Microscopy》2024年刊载的SEM成像原理综述
剑桥大学材料科学系电子显微分析公开课讲义

网络扩展解释

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种基于电子束与样品相互作用原理的高分辨率显微成像技术，广泛应用于材料科学、生物学、工业等领域。以下从定义、工作原理、技术特点和应用四个方面进行详细解释：

一、定义

扫描电子显微镜通过聚焦的高能电子束扫描样品表面，收集样品激发的物理信号（如二次电子、背散射电子等），经处理后形成微观形貌图像。它结合了透射电子显微镜（TEM）和光学显微镜的优势，分辨率可达1纳米，放大倍数高达30万倍。

二、工作原理

电子束扫描：电子枪发射高能电子束，经电磁透镜聚焦成极细的电子探针，在样品表面逐点扫描。
信号激发：电子束与样品相互作用，产生二次电子、背散射电子、X射线等信号。
信号处理：探测器收集信号并转换为电信号，经放大后输入显示器，形成反映样品表面形貌或成分的图像。

三、技术特点

高分辨率：最高可达1纳米，优于光学显微镜。
景深大：成像立体感强，适合观察粗糙表面。
多功能分析：可结合能谱仪（EDS）进行微区成分分析。

四、应用领域

材料科学：观察金属、陶瓷等材料的微观结构、断裂面形貌。
生物学：研究细胞、组织、微生物的立体形貌（需特殊样品处理）。
工业制造：检测半导体、电子元件的表面缺陷或镀层质量。

如需更详细信息，可参考相关学术文献或仪器说明文档。