
【機】 coupons
sampling
【化】 sampling; taking of samples; thief
【醫】 sampling
flake; parcel; partial; patch; piece; slice
【計】 slice
【醫】 disc; disci; discus; disk; flap; piece
【經】 card
在漢英詞典中,"取樣片"對應的英文術語為sampling wafer或sample slice,指在工業生産或科研實驗中用于獲取代表性樣本的薄片狀工具,常見于半導體制造、材料分析、質量控制等領域。其核心功能在于通過标準化切割或提取流程,确保樣本的物理特性與整體材料保持一緻。
該術語在權威文獻中常與ASTM E122(美國材料與試驗協會制定的取樣标準)及ISO 2859-1(國際标準化組織發布的抽樣檢驗規範)關聯,體現其在科學實驗中的規範性和可重複性。例如,半導體行業使用矽基取樣片進行晶圓缺陷檢測,需遵循SEMI MF1819标準(國際半導體産業協會指南),以保障芯片良率。
參考來源:
“取樣片”這一表述可以拆解為“取樣”和“樣片”兩部分理解,其核心含義是從整體中選取具有代表性的樣品或樣本。以下是具體解釋:
樣片指用于展示、審查或測試的樣品,常見于以下場景:
“取樣”指從整體中抽取部分樣本,通常用于檢測、分析或評估。結合“樣片”後,可理解為:
“取樣片”即通過選取部分樣片來代表整體,用于審查、測試或展示。其應用領域廣泛,需根據具體場景判斷,但核心邏輯一緻:通過局部樣本反映整體特性。
如果需要更具體的行業案例,可進一步說明場景以便補充。
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