
【化】 double escape peak
both; double; even; twin; two; twofold
【化】 dyad
【醫】 amb-; ambi-; ambo-; bi-; bis-; di-; diplo-; par
【化】 escape peak
雙逃逸峰(double escape peak)是光譜分析領域中的專業術語,指高能光子與探測器相互作用時産生次級光子的特殊現象。該現象常見于高分辨率X射線熒光光譜儀和伽馬射線探測器中,當入射粒子在探測器内經曆兩次逃逸過程時,會在能譜圖上形成兩個相鄰的特征峰。
從物理機制分析,雙逃逸峰的形成涉及兩個階段:首先入射伽馬射線通過電子對效應産生正負電子對,隨後其中一個511keV的湮滅光子逃逸探測器,最終記錄的能量為原始能量減去1022keV。這種雙重能量損失過程形成的特征峰,可作為核素識别的重要依據(來源:美國國家标準與技術研究院《伽馬射線能譜學基礎》)。
在實踐應用中,雙逃逸峰具有重要價值:
該術語對應的英文表述為"double escape peak",在《IEEE核科學與醫學影像标準術語表》中被明确定義為:"A spectral peak formed when two annihilation photons escape from the detector following pair production."(來源:IEEE标準協會官網術語數據庫)
雙逃逸峰是γ射線能譜分析中的一個重要概念,主要與高能光子(能量>1.022 MeV)在探測器内的相互作用有關。其定義和形成機制如下:
當高能γ射線進入探測器時,可能發生電子對效應,即光子能量轉化為一對正負電子。隨後,正電子與探測器内電子湮滅,産生兩個能量均為0.511 MeV的湮沒光子。若這兩個湮沒光子同時逃逸出探測器,則探測器記錄的能量為原γ射線能量減去兩倍湮沒光子能量(即2×0.511 MeV=1.022 MeV),此時形成的峰稱為雙逃逸峰。
雙逃逸峰的能量計算公式為: $$ E{text{雙逃逸峰}} = E{gamma} - 2 times 0.511 , text{MeV} $$ 例如,若原γ射線能量為2.0 MeV,則雙逃逸峰位于2.0 - 1.022 = 0.978 MeV處。
在X射線能譜中,逃逸峰可能由探測器材料(如矽)的特征X射線逃逸引起。例如,矽探測器(Si)的逃逸峰能量比主峰低1.74 keV(對應Si的Kα能量),但其形成機制與γ射線的電子對效應不同,屬于低能量範圍的逃逸現象。
雙逃逸峰常見于核物理實驗或放射性測量中,尤其在高能γ射線(如核反應或放射性核素衰變)的能譜分析中需重點識别,以避免誤判峰位對應的能量值。
雙逃逸峰反映了探測器對高能光子的不完全能量沉積特性,其存在對能譜解析和核素識别具有重要意義。
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