
【电】 dynamic random-access memory
dynamic; dynamic state; trends
【经】 movement
RAM
【电】 random access memory
动态随机存取内存(Dynamic Random Access Memory,DRAM)是计算机系统中用于临时存储数据和程序指令的关键半导体存储器。其核心特征与工作原理如下:
动态刷新机制
DRAM 利用电容存储电荷表示二进制数据(1/0)。由于电容会自然放电,需要周期性刷新(Refresh)以维持数据,通常每64ms刷新数千次。这与静态随机存取内存(SRAM)的触发器结构形成对比,后者无需刷新但成本更高、密度更低 。
存取结构
数据通过行地址(Row Address)和列地址(Column Address)分步定位。读取时,整行数据会被复制到行缓冲器(Row Buffer),再输出目标列,此过程导致较SRAM更高的延迟 。
密度与成本
单DRAM存储单元仅需1个晶体管+1个电容(1T1C),单元面积远小于SRAM(6晶体管),因此单位容量成本更低,适用于大容量主内存(如DDR5模块可达64GB) 。
速度与带宽
现代DRAM采用双倍数据速率(DDR)技术,通过上升沿/下降沿同步传输数据。以DDR5为例,传输速率可达6.4Gbps,带宽提升至51.2GB/s(单通道)。
功耗管理
自刷新(Self-Refresh)模式可在待机时降低功耗,而温度补偿刷新(TCR)技术则根据芯片温度动态调整刷新频率,减少能耗 。
计算机主内存
作为CPU直接访问的工作内存(如DIMM模块),承担操作系统、应用程序的实时数据加载任务。其大容量特性支撑多任务处理与复杂计算需求 。
演进技术
(来源:JEDEC固态技术协会官网 [jedec.org])
中文 | 英文 | 缩写 |
---|---|---|
动态随机存取内存 | Dynamic Random Access Memory | DRAM |
刷新周期 | Refresh Cycle | — |
行地址选通脉冲 | Row Address Strobe | RAS |
列地址选通脉冲 | Column Address Strobe | CAS |
双倍数据速率 | Double Data Rate | DDR |
动态随机存取内存(Dynamic Random Access Memory,DRAM)是一种常见的半导体存储器,其核心特点与工作原理可归纳如下:
DRAM通过电容存储电荷来表示二进制数据(1或0),每个存储单元由一个晶体管和一个电容组成。由于电容会自然漏电,电荷随时间衰减,必须通过周期性刷新(通常每几毫秒一次)来维持数据完整性,这也是“动态”名称的由来。
DRAM广泛应用于个人电脑、服务器、移动设备及高性能计算领域,主要承担运行中程序和数据的临时存储任务。
如需更深入的技术规范(如DDR4标准下的低温功耗优化),可参考具体行业资料。
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