
【电】 reliability data
【电】 reliability
data; material
【医】 data; datum
【经】 data; information
可靠度(Reliability)指系统、设备或数据在特定条件下持续稳定运行或保持准确性的能力。其英文对应术语为“Reliability”,强调性能的可预测性与无故障性。资料(Data/Information)指用于分析、决策或验证的原始信息或数据集。组合术语“可靠度资料”(Reliability Data)特指通过实验、测试或长期监测获得的,用于评估系统/组件可靠性的定量或定性数据,例如故障时间、失效模式、环境应力参数等。
用于产品寿命预测(如电子元器件加速寿命试验数据)、质量控制(如生产线故障率统计)。参考标准:IEC 60300(可靠性管理国际标准)。
在可靠性工程中,通过威布尔分布(Weibull Distribution)等模型分析失效数据,公式为:
$$
F(t) = 1 - e^{-(t/eta)^beta}
$$
其中 $eta$ 为特征寿命,$beta$ 为形状参数。来源:NASA可靠性分析手册(NASA Reliability-Centered Maintenance Guide)。
涉及可靠性数据的采集方法(如加速退化试验)、置信区间计算等。参考期刊:《Reliability Engineering & System Safety》。
(注:因搜索结果未提供直接可引用的网页链接,以上来源基于公开标准及权威出版物名称,建议用户通过学术数据库或标准机构官网进一步验证。)
可靠度(Reliability)是描述产品、系统或结构在规定条件下和时间内完成预定功能的概率,是可靠性理论的量化指标。以下是详细解释:
可靠度的核心要素包含四个维度:
例如,某电子元件在25℃环境下工作1000小时无故障的概率为0.99,即其可靠度R(1000)=0.99。
可靠度函数$R(t)$的数学建模: $$ R(t) = e^{-int_0^t lambda(tau)dtau} $$ 其中:
该公式表明可靠度随时间呈指数衰减,并与故障率直接相关。
固有可靠度($R_I$):
由设计制造决定的理想状态可靠度,通过实验室模拟测试获得
使用可靠度($RV$):
实际应用中受运输、操作等因素影响的可靠度,满足关系式:
$$
R{操作} = R_I times R_V
$$
影响因素 | 说明 | 典型示例 |
---|---|---|
设计缺陷 | 结构强度不足 | 桥梁负载设计余量不足 |
材料老化 | 物性随时间退化 | 橡胶密封圈硬化开裂 |
环境应力 | 外部条件超出设计范围 | 电子器件高温失效 |
人为操作 | 非规范使用 | 设备超载运行 |
故障率曲线(浴盆曲线):
分为初期故障(设计缺陷)、随机故障(稳定期)、耗损故障(老化阶段)三个阶段
平均无故障时间(MTBF):
对可修复系统,计算公式为:
$$
MTBF = frac{1}{lambda}
$$
系统可靠度计算:
串联系统:$R_{系统}=prod Ri$
并联系统:$R{系统}=1-prod (1-R_i)$
如需更完整的数学推导案例或行业应用标准,可参考国标GB/T 3187等可靠性工程标准文件。
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