微区衍射英文解释翻译、微区衍射的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 micro-area diffraction

分词翻译：

微的英语翻译：

decline; profound; tiny
【计】 mic-; micro-
【医】 micr-; micro-; mikro-; mu

区的英语翻译：

area; borough; classify; distinguish; district; region; section
【计】 region
【医】 area; belt; field; quarter; regio; region; zona; zone

衍射的英语翻译：

diffract; diffraction
【化】 diffraction
【医】 diffraction

专业解析

微区衍射（Micro-area Diffraction）是一种材料微观结构分析技术，特指利用聚焦的电子束或X射线束在样品极微小区域（通常为纳米至微米尺度）内激发衍射信号，从而获取该局部区域的晶体结构、取向或物相信息。以下是汉英词典角度的详细解释：

一、中文术语解析

微区衍射

微区：指被分析的样品区域尺寸极小，区别于传统大范围衍射分析。
衍射：指入射束（电子束/X射线）与样品内规则排列的原子相互作用后产生的相干散射现象，形成衍射图谱。
核心含义：在微米或纳米尺度上，通过衍射技术解析材料的晶体结构信息。

二、英文对应术语

Micro-area Diffraction

Micro-area：A spatially confined region, typically analysed with a focused probe (e.g., electron beam in TEM/SEM or micro-X-ray beam).
Diffraction：The wave interference phenomenon resulting from the interaction of incident beams with crystalline lattices, producing characteristic patterns.
技术本质：A technique enabling localized crystallographic analysis within sub-micron domains.

三、技术原理与应用

工作原理
通过电磁透镜或光学系统将入射束聚焦至微小区域（束斑直径可小至纳米级），样品局部晶格对入射束产生布拉格衍射，形成衍射斑点或环（图1）。通过分析衍射角、斑点分布，可计算晶面间距、晶体取向及物相组成。
核心设备
- 透射电镜（TEM）：电子束微区衍射（如选区衍射SAED、纳米束衍射NBED）。
- 扫描电镜（SEM）：电子背散射衍射（EBSD），用于表面微区晶体取向分析。
- 微区X射线衍射（μ-XRD）：同步辐射光源或实验室X光机结合聚焦光学元件实现。
核心应用
- 定位缺陷分析（如单颗晶界、位错周围的晶体畸变）；
- 多相材料中纳米级第二相的鉴定；
- 微电子器件中局部应力/应变测量。

四、与传统衍射技术的区别

参数	微区衍射	传统XRD（宏观衍射）
分析区域	纳米-微米级	毫米-厘米级
空间分辨率	≤ 1 nm (TEM)	≥ 0.1 mm
适用样品	薄膜、纳米颗粒、局部特征	块体粉末、大体积均质材料

五、权威定义参考

材料科学词典

微区衍射指“利用聚焦探针在限定区域内获取衍射信息的技术，适用于非均质材料的局部结构解析”。
来源：《材料分析技术大辞典》（科学出版社）
国际电子显微学会定义

“Micro-area diffraction in TEM context refers to patterns obtained from regions less than 500 nm, enabling nanoscale phase identification.”
来源：International Federation of Societies for Microscopy (IFSM)
X射线衍射标准

“μ-XRD utilizes capillary optics or synchrotron beams to achieve spatial resolution of 10 μm, critical for heterogeneous samples.”
来源：International Centre for Diffraction Data (ICDD)

通过结合聚焦束技术与衍射原理，微区衍射填补了宏观表征与原子尺度分析之间的空白，已成为材料科学、半导体工业及地质学中不可或缺的微纳结构解析工具。

网络扩展解释

微区衍射（Micro X-ray Diffraction，μXRD）是一种基于X射线衍射原理的高分辨率分析技术，主要用于对微小区域（通常为微米级）的晶体结构进行局部化检测。以下从定义、技术特点和应用三个方面详细解释：

1.定义与原理

微区衍射是X射线衍射（XRD）的衍生技术，其核心是通过聚焦X射线束（直径可小至50 μm）对样品微小区域进行扫描，获取局部晶体结构信息（如物相组成、晶格应变等）。衍射现象本身指波（如X射线）遇到障碍物或孔隙时发生绕射和散射的特性，当障碍物/孔隙尺寸与波长相近时尤为显著（）。

2.技术特点

高空间分辨率：利用单毛细管等光学元件缩小X射线束直径（约50 μm），实现微米级区域的精准定位分析（）。
局部化检测：适用于非均质样品（如多相材料、涂层等），可识别微区内晶格畸变、择优取向等差异（）。
无损分析：与传统破坏性取样相比，可直接对样品表面微小区域进行原位测试（）。

3.典型应用

材料科学：分析复合材料、薄膜或涂层中不同区域的物相分布（）。
地质与考古：检测矿物微晶或文物表面微小区域的晶体结构变化（）。
工业质检：定位电子元件、金属合金中的微观缺陷（如位错、应力集中区）（）。

补充说明

普通XRD与微区XRD的关键区别在于光束尺寸和分析范围。前者通常用于宏观均质样品，后者则针对微观非均质区域（）。相关技术细节可参考马尔文帕纳科或材料测试文献。