微區衍射英文解釋翻譯、微區衍射的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 micro-area diffraction

分詞翻譯：

微的英語翻譯：

decline; profound; tiny
【計】 mic-; micro-
【醫】 micr-; micro-; mikro-; mu

區的英語翻譯：

area; borough; classify; distinguish; district; region; section
【計】 region
【醫】 area; belt; field; quarter; regio; region; zona; zone

衍射的英語翻譯：

diffract; diffraction
【化】 diffraction
【醫】 diffraction

專業解析

微區衍射（Micro-area Diffraction）是一種材料微觀結構分析技術，特指利用聚焦的電子束或X射線束在樣品極微小區域（通常為納米至微米尺度）内激發衍射信號，從而獲取該局部區域的晶體結構、取向或物相信息。以下是漢英詞典角度的詳細解釋：

一、中文術語解析

微區衍射

微區：指被分析的樣品區域尺寸極小，區别于傳統大範圍衍射分析。
衍射：指入射束（電子束/X射線）與樣品内規則排列的原子相互作用後産生的相幹散射現象，形成衍射圖譜。
核心含義：在微米或納米尺度上，通過衍射技術解析材料的晶體結構信息。

二、英文對應術語

Micro-area Diffraction

Micro-area：A spatially confined region, typically analysed with a focused probe (e.g., electron beam in TEM/SEM or micro-X-ray beam).
Diffraction：The wave interference phenomenon resulting from the interaction of incident beams with crystalline lattices, producing characteristic patterns.
技術本質：A technique enabling localized crystallographic analysis within sub-micron domains.

三、技術原理與應用

工作原理
通過電磁透鏡或光學系統将入射束聚焦至微小區域（束斑直徑可小至納米級），樣品局部晶格對入射束産生布拉格衍射，形成衍射斑點或環（圖1）。通過分析衍射角、斑點分布，可計算晶面間距、晶體取向及物相組成。
核心設備
- 透射電鏡（TEM）：電子束微區衍射（如選區衍射SAED、納米束衍射NBED）。
- 掃描電鏡（SEM）：電子背散射衍射（EBSD），用于表面微區晶體取向分析。
- 微區X射線衍射（μ-XRD）：同步輻射光源或實驗室X光機結合聚焦光學元件實現。
核心應用
- 定位缺陷分析（如單顆晶界、位錯周圍的晶體畸變）；
- 多相材料中納米級第二相的鑒定；
- 微電子器件中局部應力/應變測量。

四、與傳統衍射技術的區别

參數	微區衍射	傳統XRD（宏觀衍射）
分析區域	納米-微米級	毫米-厘米級
空間分辨率	≤ 1 nm (TEM)	≥ 0.1 mm
適用樣品	薄膜、納米顆粒、局部特征	塊體粉末、大體積均質材料

五、權威定義參考

材料科學詞典

微區衍射指“利用聚焦探針在限定區域内獲取衍射信息的技術，適用于非均質材料的局部結構解析”。
來源：《材料分析技術大辭典》（科學出版社）
國際電子顯微學會定義

“Micro-area diffraction in TEM context refers to patterns obtained from regions less than 500 nm, enabling nanoscale phase identification.”
來源：International Federation of Societies for Microscopy (IFSM)
X射線衍射标準

“μ-XRD utilizes capillary optics or synchrotron beams to achieve spatial resolution of 10 μm, critical for heterogeneous samples.”
來源：International Centre for Diffraction Data (ICDD)

通過結合聚焦束技術與衍射原理，微區衍射填補了宏觀表征與原子尺度分析之間的空白，已成為材料科學、半導體工業及地質學中不可或缺的微納結構解析工具。

網絡擴展解釋

微區衍射（Micro X-ray Diffraction，μXRD）是一種基于X射線衍射原理的高分辨率分析技術，主要用于對微小區域（通常為微米級）的晶體結構進行局部化檢測。以下從定義、技術特點和應用三個方面詳細解釋：

1.定義與原理

微區衍射是X射線衍射（XRD）的衍生技術，其核心是通過聚焦X射線束（直徑可小至50 μm）對樣品微小區域進行掃描，獲取局部晶體結構信息（如物相組成、晶格應變等）。衍射現象本身指波（如X射線）遇到障礙物或孔隙時發生繞射和散射的特性，當障礙物/孔隙尺寸與波長相近時尤為顯著（）。

2.技術特點

高空間分辨率：利用單毛細管等光學元件縮小X射線束直徑（約50 μm），實現微米級區域的精準定位分析（）。
局部化檢測：適用于非均質樣品（如多相材料、塗層等），可識别微區内晶格畸變、擇優取向等差異（）。
無損分析：與傳統破壞性取樣相比，可直接對樣品表面微小區域進行原位測試（）。

3.典型應用

材料科學：分析複合材料、薄膜或塗層中不同區域的物相分布（）。
地質與考古：檢測礦物微晶或文物表面微小區域的晶體結構變化（）。
工業質檢：定位電子元件、金屬合金中的微觀缺陷（如位錯、應力集中區）（）。

補充說明

普通XRD與微區XRD的關鍵區别在于光束尺寸和分析範圍。前者通常用于宏觀均質樣品，後者則針對微觀非均質區域（）。相關技術細節可參考馬爾文帕納科或材料測試文獻。