幅襯顯微學英文解釋翻譯、幅襯顯微學的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 amplitude contrast microscopy

分詞翻譯：

幅的英語翻譯：

size; width of cloth
【機】 arm

襯的英語翻譯：

line; liner

顯微學的英語翻譯：

micrology

專業解析

幅襯顯微學（Amplitude Contrast Microscopy）是電子顯微鏡成像中的一種重要襯度機制，指利用電子波穿過樣品後振幅的變化來形成圖像襯度的顯微技術。其核心原理是：當高能電子束穿透樣品時，樣品中不同區域（如原子序數或厚度差異）對電子的散射和吸收程度不同，導緻透射電子波的振幅産生差異，這種振幅差異被轉換為圖像中的明暗對比，從而揭示樣品的結構信息。該技術尤其適用于觀察重金屬染色生物樣品或高原子序數材料，因其能顯著增強特定區域的振幅衰減襯度。

關鍵特征與典型應用：

襯度來源：依賴樣品的質量厚度（密度×厚度）或原子序數差異引起的電子散射，散射強的區域在明場像中呈暗區（如細胞切片中的染色部位）。
技術優勢：對重金屬标記敏感，適用于觀察染色生物組織（如超薄切片中的細胞器）、金屬顆粒或複合材料中的成分分布。
與相位襯度對比：區别于相位襯度顯微學（利用電子波相位偏移成像），幅襯顯微學更適用于較厚或高原子序數樣品，而相位襯度對輕元素、未染色樣品的高分辨率成像更有效。

權威參考來源：

《材料表征中的電子顯微學》（Springer出版）：系統闡述振幅襯度在材料科學中的應用，包括理論模型及案例（鍊接）。
《生物電子顯微鏡學原理》（Elsevier）：詳述生物樣品染色後振幅襯度的形成機制及實驗方法（鍊接）。
IOP Science期刊論文：分析振幅襯度在納米材料界面研究中的定量化應用（鍊接）。

注：該術語在漢英詞典中常直譯為“Amplitude Contrast Microscopy”，屬專業電子顯微學術語，需結合具體語境理解其物理内涵。

網絡擴展解釋

“幅襯顯微學”是一個專業術語，其英文對應為amplitude contrast microscopy（），屬于顯微技術領域。以下是詳細解釋：

1.術語構成解析

幅（Amplitude）：指波的振幅，在光學或電子顯微鏡中，振幅變化與樣品的物理特性（如厚度、密度）相關，影響成像的明暗對比。
襯（Contrast）：即“對比度”，通過檢測樣品不同區域振幅差異，增強圖像細節的可分辨性。
顯微學（Microscopy）：泛指利用顯微鏡觀察微觀結構的科學技術。

2.技術原理

該技術通過分析樣品對入射波（如光波、電子波）的振幅衰減或散射差異，生成高對比度圖像。與相位襯度顯微術（Phase Contrast Microscopy）不同，它更依賴振幅信息而非相位變化。

3.應用領域

材料科學：觀察金屬、晶體等材料的微觀結構。
生物學：研究細胞、組織等生物樣本的形态特征（需結合其他染色或标記技術）。

4.相關技術對比

相位襯度顯微術：利用相位差成像，適用于透明樣本（如活細胞）。
暗場顯微術：通過散射光增強邊緣對比，常用于觀察微小顆粒。

若需進一步了解具體儀器操作或案例，建議查閱專業顯微成像文獻或教材（）。