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幅衬显微学英文解释翻译、幅衬显微学的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【化】 amplitude contrast microscopy

分词翻译:

幅的英语翻译:

size; width of cloth
【机】 arm

衬的英语翻译:

line; liner

显微学的英语翻译:

micrology

专业解析

幅衬显微学(Amplitude Contrast Microscopy)是电子显微镜成像中的一种重要衬度机制,指利用电子波穿过样品后振幅的变化来形成图像衬度的显微技术。其核心原理是:当高能电子束穿透样品时,样品中不同区域(如原子序数或厚度差异)对电子的散射和吸收程度不同,导致透射电子波的振幅产生差异,这种振幅差异被转换为图像中的明暗对比,从而揭示样品的结构信息。该技术尤其适用于观察重金属染色生物样品或高原子序数材料,因其能显著增强特定区域的振幅衰减衬度。

关键特征与典型应用:

  1. 衬度来源:依赖样品的质量厚度(密度×厚度)或原子序数差异引起的电子散射,散射强的区域在明场像中呈暗区(如细胞切片中的染色部位)。
  2. 技术优势:对重金属标记敏感,适用于观察染色生物组织(如超薄切片中的细胞器)、金属颗粒或复合材料中的成分分布。
  3. 与相位衬度对比:区别于相位衬度显微学(利用电子波相位偏移成像),幅衬显微学更适用于较厚或高原子序数样品,而相位衬度对轻元素、未染色样品的高分辨率成像更有效。

权威参考来源:

注:该术语在汉英词典中常直译为“Amplitude Contrast Microscopy”,属专业电子显微学术语,需结合具体语境理解其物理内涵。

网络扩展解释

“幅衬显微学”是一个专业术语,其英文对应为amplitude contrast microscopy(),属于显微技术领域。以下是详细解释:

1.术语构成解析

2.技术原理

该技术通过分析样品对入射波(如光波、电子波)的振幅衰减或散射差异,生成高对比度图像。与相位衬度显微术(Phase Contrast Microscopy)不同,它更依赖振幅信息而非相位变化。

3.应用领域

4.相关技术对比

若需进一步了解具体仪器操作或案例,建议查阅专业显微成像文献或教材()。

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