反射計英文解釋翻譯、反射計的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【醫】 anacamptometer; reflexometer

分詞翻譯：

反射的英語翻譯：

echo; flash; glint; reflect; return; reverberate; throw back
【計】 mirroring; reflection; reflew
【化】 reflection
【醫】 jerk; reflect; reflection; reflex; reflexio; reflexion

計的英語翻譯：

idea; plan; calculate; count; meter; stratagem
【醫】 meter

專業解析

反射計（Reflectometer）是一種用于測量電磁波在傳輸線或介質中反射特性的電子測量儀器，通過分析反射信號來評估傳輸路徑的阻抗匹配、故障點定位及材料特性。以下是其核心要素的漢英對照解析：

一、基礎定義

中文術語：反射計
英文術語：Reflectometer

定義：基于入射波與反射波的能量比，計算反射系數（Reflection Coefficient）或電壓駐波比（VSWR）的設備。其工作原理遵循電磁波在阻抗不連續點的反射定律（IEEE Std 287）。

二、核心測量參數

反射系數（Γ）
- 公式：
  $$ Gamma = frac{Z_L - Z_0}{Z_L + Z_0}
  
  $$
  
  其中 (Z_L) 為負載阻抗，(Z_0) 為特性阻抗（來源：Microwave Engineering, David M. Pozar）。
電壓駐波比（VSWR）
- 定義：駐波電壓最大值與最小值的比值，直接關聯反射系數：
  $$ text{VSWR} = frac{1 + |Gamma|}{1 - |Gamma|} $$

三、主要類型與應用

時域反射計（TDR）
- 英文：Time-Domain Reflectometer
- 原理：發射脈沖信號，通過反射時延定位電纜故障點（如斷路、短路），精度達毫米級（Keysight Technologies技術手冊）。
光時域反射計（OTDR）
- 英文：Optical Time-Domain Reflectometer
- 應用：光纖通信中檢測損耗點、連接器故障及光纖長度（OFS Fitel白皮書）。
網絡分析儀中的反射測量
- 英文：Vector Network Analyzer (VNA)
- 功能：在頻域測量S參數（如S11），分析射頻器件阻抗匹配（Rohde & Schwarz應用指南）。

四、典型場景

天線系統調試：測量天線饋線VSWR，優化發射效率（ARRL《天線手冊》）。
半導體測試：晶圓級互連線阻抗分析（IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques）。
材料表征：通過微波反射率反演介電常數（如NASA對航天器隔熱材料的測試）。

權威參考文獻：

IEEE Standard 287《高頻電介質測試标準》

Pozar, D. M. Microwave Engineering, 4th Ed., Wiley.

Keysight Technologies, TDR Fundamentals Application Note

OFS Fitel, Understanding OTDR Trace Analysis

ARRL Antenna Book, 25th Ed.

網絡擴展解釋

反射計是一種用于測量反射波與入射波關系的儀器，其核心功能是分析材料或系統中的反射特性。根據應用領域和技術原理的不同，反射計可分為多個類别，以下為詳細解釋：

一、基本定義

反射計通過測量反射波與入射波的場強比值（如幅度、相位或功率）來評估目标物體的反射系數。該儀器廣泛應用于電磁波傳輸系統檢測、光學材料分析以及工業表面處理評估。

二、主要分類及原理

六端口反射計
通過功率測量确定複數反射系數，其核心公式為：
$$Gamma_L = frac{S_i + c_i}{S_j + beta_j}$$
其中系統函數$S_i$、$c_i$、$beta_j$通過标準負載定标獲得。
時域反射計（TDR）
發射脈沖信號并測量反射時間差，通過公式$距離 = frac{傳播速度 times 時間差}{2}$定位電纜故障點。
光頻域反射計（OFDR）
利用光外差探測技術，結合線性掃頻光源和幹涉儀實現高精度光纖參數測量，動态範圍可達數十公裡。

三、應用領域

工業制造：檢測電鍍表面粗糙度；
通信工程：定位光纖斷裂點或測量微波器件反射系數；
汽車行業：測試後視鏡反射率（符合JIS D5705标準）；
科研實驗：通過基爾霍夫定律計算材料發射率。

四、測量方法

直接法：光源直射被測物體，適用于高反射率材料；
間接法：通過背向散射信號分析，常用于光纖等透明介質。

以上信息綜合了電子工程、光學和工業檢測領域的關鍵應用，更多技術細節可參考知網百科和儀器設備百科等來源。