反射计英文解释翻译、反射计的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【医】 anacamptometer; reflexometer

分词翻译：

反射的英语翻译：

echo; flash; glint; reflect; return; reverberate; throw back
【计】 mirroring; reflection; reflew
【化】 reflection
【医】 jerk; reflect; reflection; reflex; reflexio; reflexion

计的英语翻译：

idea; plan; calculate; count; meter; stratagem
【医】 meter

专业解析

反射计（Reflectometer）是一种用于测量电磁波在传输线或介质中反射特性的电子测量仪器，通过分析反射信号来评估传输路径的阻抗匹配、故障点定位及材料特性。以下是其核心要素的汉英对照解析：

一、基础定义

中文术语：反射计
英文术语：Reflectometer

定义：基于入射波与反射波的能量比，计算反射系数（Reflection Coefficient）或电压驻波比（VSWR）的设备。其工作原理遵循电磁波在阻抗不连续点的反射定律（IEEE Std 287）。

二、核心测量参数

反射系数（Γ）
- 公式：
  $$ Gamma = frac{Z_L - Z_0}{Z_L + Z_0}
  
  $$
  
  其中 (Z_L) 为负载阻抗，(Z_0) 为特性阻抗（来源：Microwave Engineering, David M. Pozar）。
电压驻波比（VSWR）
- 定义：驻波电压最大值与最小值的比值，直接关联反射系数：
  $$ text{VSWR} = frac{1 + |Gamma|}{1 - |Gamma|} $$

三、主要类型与应用

时域反射计（TDR）
- 英文：Time-Domain Reflectometer
- 原理：发射脉冲信号，通过反射时延定位电缆故障点（如断路、短路），精度达毫米级（Keysight Technologies技术手册）。
光时域反射计（OTDR）
- 英文：Optical Time-Domain Reflectometer
- 应用：光纤通信中检测损耗点、连接器故障及光纤长度（OFS Fitel白皮书）。
网络分析仪中的反射测量
- 英文：Vector Network Analyzer (VNA)
- 功能：在频域测量S参数（如S11），分析射频器件阻抗匹配（Rohde & Schwarz应用指南）。

四、典型场景

天线系统调试：测量天线馈线VSWR，优化发射效率（ARRL《天线手册》）。
半导体测试：晶圆级互连线阻抗分析（IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques）。
材料表征：通过微波反射率反演介电常数（如NASA对航天器隔热材料的测试）。

权威参考文献：

IEEE Standard 287《高频电介质测试标准》

Pozar, D. M. Microwave Engineering, 4th Ed., Wiley.

Keysight Technologies, TDR Fundamentals Application Note

OFS Fitel, Understanding OTDR Trace Analysis

ARRL Antenna Book, 25th Ed.

网络扩展解释

反射计是一种用于测量反射波与入射波关系的仪器，其核心功能是分析材料或系统中的反射特性。根据应用领域和技术原理的不同，反射计可分为多个类别，以下为详细解释：

一、基本定义

反射计通过测量反射波与入射波的场强比值（如幅度、相位或功率）来评估目标物体的反射系数。该仪器广泛应用于电磁波传输系统检测、光学材料分析以及工业表面处理评估。

二、主要分类及原理

六端口反射计
通过功率测量确定复数反射系数，其核心公式为：
$$Gamma_L = frac{S_i + c_i}{S_j + beta_j}$$
其中系统函数$S_i$、$c_i$、$beta_j$通过标准负载定标获得。
时域反射计（TDR）
发射脉冲信号并测量反射时间差，通过公式$距离 = frac{传播速度 times 时间差}{2}$定位电缆故障点。
光频域反射计（OFDR）
利用光外差探测技术，结合线性扫频光源和干涉仪实现高精度光纤参数测量，动态范围可达数十公里。

三、应用领域

工业制造：检测电镀表面粗糙度；
通信工程：定位光纤断裂点或测量微波器件反射系数；
汽车行业：测试后视镜反射率（符合JIS D5705标准）；
科研实验：通过基尔霍夫定律计算材料发射率。

四、测量方法

直接法：光源直射被测物体，适用于高反射率材料；
间接法：通过背向散射信号分析，常用于光纤等透明介质。