
【計】 silicon nitride film
【化】 azotizing
【醫】 azotize; nitridation; nitrogenization
silicon
【醫】 Si; silicium; silicon
film; membrane; pellicle
【計】 thin membrane; thin-film
【醫】 film
氮化矽薄膜(Silicon Nitride Thin Film)是一種由矽(Si)和氮(N)元素組成的無機非金屬材料,化學式為Si₃N₄。該材料以納米至微米級厚度沉積在基體表面,因其獨特的物理化學性質被廣泛應用于半導體、微電子、光學塗層及機械工程等領域。
從材料特性角度,氮化矽薄膜具有以下核心屬性:
在工程應用中,氮化矽薄膜主要通過化學氣相沉積(CVD)或物理氣相沉積(PVD)工藝制備。例如,半導體行業利用等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)技術生成低應力薄膜,用于晶圓制造的鈍化層和掩膜材料。近期研究還表明,該材料在生物傳感器和太陽能電池中的透明導電膜領域展現出潛力(來源:Springer材料科學叢書)。
氮化矽薄膜是一種由矽和氮元素組成的非金屬化合物薄膜,具有優異的物理、化學和電學性能,廣泛應用于集成電路、光電子器件、MEMS等領域。以下從多個維度綜合說明其特性與應用:
結構與化學特性
氮化矽薄膜通常以無定型或微晶結構存在(),Si-N鍵具有強共價性,賦予其高機械強度和熱穩定性。薄膜表面緻密光滑,晶粒分布均勻,能有效覆蓋基底()。
光學性質
電學性質
集成電路
光電子器件
用于光學窗口、光波導及抗反射塗層,提升光電設備的光捕獲效率()。
機械防護
高硬度和耐磨性使其適用于耐磨塗層和MEMS器件的機械保護()。
CVD技術
應力調控
通過調整反應氣體比例和工藝參數,可實現薄膜的張應力或壓應力,優化器件可靠性()。
氮化矽薄膜因其獨特的綜合性能,成為半導體工業和光電子領域的關鍵材料。未來研發方向可能聚焦于更低成本的制備工藝和更高精度的性能調控()。如需更詳細的技術參數或應用案例,可參考、4、8等來源。
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