路徑敏化測試産生法英文解釋翻譯、路徑敏化測試産生法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 path sensitizing test generation

分詞翻譯：

路徑敏化的英語翻譯：

【計】 path sensitization

測試的英語翻譯：

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

産生的英語翻譯：

bring; come into being; engender; produce; result; give birth to
【化】 creation; yield
【醫】 production
【經】 accrue

法的英語翻譯：

dharma; divisor; follow; law; standard
【醫】 method
【經】 law

專業解析

路徑敏化測試産生法（Path Sensitization Test Generation Method）是數字電路測試領域的一種經典方法，主要用于生成檢測電路故障的測試向量。其核心原理是通過激活目标路徑上的邏輯故障，并将故障效應傳播至可觀測輸出端，從而驗證電路功能的正确性。

該方法的中英文對照技術要點包含以下三部分：

故障激活（Fault Activation）：通過輸入向量使目标路徑上的邏輯門處于非故障狀态的互補值，例如在固定型故障（Stuck-at Fault）中強制節點電壓與故障狀态相反。
路徑敏化（Path Sensitization）：确保故障信號能夠沿特定路徑傳遞至輸出端口，需通過設置其他路徑的輸入值避免信號抵消（例如使用D算法中的D和D'标記故障傳播）。
測試向量生成（Test Pattern Generation）：結合電路拓撲結構和布爾差分法，生成滿足故障覆蓋率的最小測試集，例如通過PODEM算法優化搜索空間。

該方法在超大規模集成電路（VLSI）測試中具有重要應用，被收錄于權威教材《數字系統測試與可測性設計》（作者Miron Abramovici），其理論基礎可追溯至1966年Roth提出的D立方理論。IEEE Transactions on Computer-Aided Design期刊的多篇論文證實了該方法在工業級芯片測試中的有效性。

網絡擴展解釋

路徑敏化測試産生法（Path Sensitizing Test Generation）是數字電路測試領域的一種關鍵技術，主要用于生成檢測電路故障的測試碼。其核心思想是通過選擇特定路徑，将電路内部故障點的信號變化（如固定型故障）傳播到可觀測的輸出端，從而驗證電路功能是否正常。

核心原理

路徑選擇：從故障點出發，選擇一條或多條邏輯路徑通向輸出端。例如，在組合電路中，可能選擇“主路徑”或“任意路徑”進行敏化。
路徑敏化：通過設置輸入信號，使得所選路徑上的邏輯門處于“敏化狀态”（即路徑上的信號變化能直接傳遞到輸出端）。例如，對于AND門，需将其他輸入置為1以保證敏化。
測試碼生成：根據敏化路徑的條件，推導出輸入端的測試向量組合，使故障效應在輸出端可觀測。

技術特點

適用性廣：既適用于門級結構的組合電路，也支持模塊級時序電路。
混合模型優化：結合布爾差分法和D-算法的優勢，通過功能塊混合模型提升效率。
高效性：通過任意路徑敏化策略，允許同時敏化多條路徑，減少計算複雜度。

應用場景

主要用于集成電路測試、印制電路闆診斷等場景，尤其適合處理高集成度芯片中未知内部拓撲結構的情況。

示例

假設某AND門輸出存在固定0故障，需敏化該路徑：

設置AND門的其他輸入為1，使故障信號能傳遞到下一級。
逐級傳遞至輸出端，最終生成輸入測試碼（如輸入全1時，正常輸出應為1，故障時輸出為0）。

該方法通過結構化路徑分析和邏輯條件推導，顯著提高了測試覆蓋率與生成效率。