路径敏化测试产生法英文解释翻译、路径敏化测试产生法的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 path sensitizing test generation

分词翻译：

路径敏化的英语翻译：

【计】 path sensitization

测试的英语翻译：

test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test

产生的英语翻译：

bring; come into being; engender; produce; result; give birth to
【化】 creation; yield
【医】 production
【经】 accrue

法的英语翻译：

dharma; divisor; follow; law; standard
【医】 method
【经】 law

专业解析

路径敏化测试产生法（Path Sensitization Test Generation Method）是数字电路测试领域的一种经典方法，主要用于生成检测电路故障的测试向量。其核心原理是通过激活目标路径上的逻辑故障，并将故障效应传播至可观测输出端，从而验证电路功能的正确性。

该方法的中英文对照技术要点包含以下三部分：

故障激活（Fault Activation）：通过输入向量使目标路径上的逻辑门处于非故障状态的互补值，例如在固定型故障（Stuck-at Fault）中强制节点电压与故障状态相反。
路径敏化（Path Sensitization）：确保故障信号能够沿特定路径传递至输出端口，需通过设置其他路径的输入值避免信号抵消（例如使用D算法中的D和D'标记故障传播）。
测试向量生成（Test Pattern Generation）：结合电路拓扑结构和布尔差分法，生成满足故障覆盖率的最小测试集，例如通过PODEM算法优化搜索空间。

该方法在超大规模集成电路（VLSI）测试中具有重要应用，被收录于权威教材《数字系统测试与可测性设计》（作者Miron Abramovici），其理论基础可追溯至1966年Roth提出的D立方理论。IEEE Transactions on Computer-Aided Design期刊的多篇论文证实了该方法在工业级芯片测试中的有效性。

网络扩展解释

路径敏化测试产生法（Path Sensitizing Test Generation）是数字电路测试领域的一种关键技术，主要用于生成检测电路故障的测试码。其核心思想是通过选择特定路径，将电路内部故障点的信号变化（如固定型故障）传播到可观测的输出端，从而验证电路功能是否正常。

核心原理

路径选择：从故障点出发，选择一条或多条逻辑路径通向输出端。例如，在组合电路中，可能选择“主路径”或“任意路径”进行敏化。
路径敏化：通过设置输入信号，使得所选路径上的逻辑门处于“敏化状态”（即路径上的信号变化能直接传递到输出端）。例如，对于AND门，需将其他输入置为1以保证敏化。
测试码生成：根据敏化路径的条件，推导出输入端的测试向量组合，使故障效应在输出端可观测。

技术特点

适用性广：既适用于门级结构的组合电路，也支持模块级时序电路。
混合模型优化：结合布尔差分法和D-算法的优势，通过功能块混合模型提升效率。
高效性：通过任意路径敏化策略，允许同时敏化多条路径，减少计算复杂度。

应用场景

主要用于集成电路测试、印制电路板诊断等场景，尤其适合处理高集成度芯片中未知内部拓扑结构的情况。

示例

假设某AND门输出存在固定0故障，需敏化该路径：

设置AND门的其他输入为1，使故障信号能传递到下一级。
逐级传递至输出端，最终生成输入测试码（如输入全1时，正常输出应为1，故障时输出为0）。

该方法通过结构化路径分析和逻辑条件推导，显著提高了测试覆盖率与生成效率。