
【計】 path sensitization
method; path; route; way
【計】 path
【化】 path
【醫】 pathway
sensitize
【醫】 sensitization
路徑敏化(Path Sensitization)是數字電路測試領域的核心概念,指在故障檢測中通過特定輸入向量激活物理缺陷,并使其傳播至可觀測輸出端的過程。該技術最早由J.P. Roth在1966年提出的D算法中系統化應用,現已成為自動測試模式生成(ATPG)的基礎方法。
從工程實現角度分析,路徑敏化包含三個關鍵階段:
數學表達可簡化為: $$ F{path} = prod{i=1}^{n} C_i cdot D oplus overline{D} $$ 其中$C_i$表示路徑上的傳遞條件,$D$為故障差異信號。該公式描述了敏化路徑的布爾約束條件。
在VLSI測試領域,路徑敏化技術可将芯片缺陷覆蓋率提升至98%以上(參考:IEEE 1149.1标準)。當前主流EDA工具如Synopsys TetraMAX仍基于該理論的擴展算法實現測試向量生成。
“路徑敏化”是計算機科學與軟件測試領域的一個專業術語,其核心含義是通過特定方法激活或選擇程式中的某條執行路徑,以便進行針對性測試。以下是詳細解釋:
基本定義
路徑敏化(Path Sensitizing)指在測試過程中,通過輸入特定的測試數據,使程式按照預設的路徑執行。這種方法常用于檢測路徑覆蓋是否完整,或驗證特定路徑上的邏輯是否正确。
應用場景
主要應用于硬件電路測試和軟件白盒測試。例如,在數字電路測試中,通過敏化路徑定位故障點;在軟件測試中,确保關鍵代碼分支(如條件判斷、循環)被充分執行。
技術目的
實現方法
需結合路徑分析工具,根據程式控制流圖(CFG)生成滿足路徑約束的輸入數據。例如,若某路徑要求滿足條件x > 0 && y < 5
,則測試數據需同時滿足這兩個條件才能觸發該路徑。
參考來源:提供了術語的直譯與領域指向,和補充了“路徑”在技術場景中的廣義解釋(如方法、門路)。
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