路径敏化英文解释翻译、路径敏化的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 path sensitization

method; path; route; way
【计】 path
【化】 path
【医】 pathway

sensitize
【医】 sensitization

路径敏化（Path Sensitization）是数字电路测试领域的核心概念，指在故障检测中通过特定输入向量激活物理缺陷，并使其传播至可观测输出端的过程。该技术最早由J.P. Roth在1966年提出的D算法中系统化应用，现已成为自动测试模式生成（ATPG）的基础方法。

从工程实现角度分析，路径敏化包含三个关键阶段：

数学表达可简化为： $$ F{path} = prod{i=1}^{n} C_i cdot D oplus overline{D} $$ 其中$C_i$表示路径上的传递条件，$D$为故障差异信号。该公式描述了敏化路径的布尔约束条件。

在VLSI测试领域，路径敏化技术可将芯片缺陷覆盖率提升至98%以上（参考：IEEE 1149.1标准）。当前主流EDA工具如Synopsys TetraMAX仍基于该理论的扩展算法实现测试向量生成。

“路径敏化”是计算机科学与软件测试领域的一个专业术语，其核心含义是通过特定方法激活或选择程序中的某条执行路径，以便进行针对性测试。以下是详细解释：

基本定义
路径敏化（Path Sensitizing）指在测试过程中，通过输入特定的测试数据，使程序按照预设的路径执行。这种方法常用于检测路径覆盖是否完整，或验证特定路径上的逻辑是否正确。
应用场景
主要应用于硬件电路测试和软件白盒测试。例如，在数字电路测试中，通过敏化路径定位故障点；在软件测试中，确保关键代码分支（如条件判断、循环）被充分执行。
技术目的
- 故障检测：通过强制程序走特定路径，暴露潜在逻辑错误或硬件缺陷。
- 覆盖验证：辅助实现高覆盖率测试目标（如语句覆盖、分支覆盖）。
- 效率优化：减少冗余测试用例，聚焦关键路径分析。
实现方法
需结合路径分析工具，根据程序控制流图（CFG）生成满足路径约束的输入数据。例如，若某路径要求满足条件x > 0 && y < 5，则测试数据需同时满足这两个条件才能触发该路径。

参考来源：提供了术语的直译与领域指向，和补充了“路径”在技术场景中的广义解释（如方法、门路）。