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矽栅互補金屬氧化物半導體英文解釋翻譯、矽栅互補金屬氧化物半導體的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【計】 silicon gate complementary MOS

分詞翻譯:

矽的英語翻譯:

silicon
【醫】 Si; silicium; silicon

栅的英語翻譯:

bar

互補金屬氧化物半導體的英語翻譯:

【計】 CMOS; complementary metal oxide semiconductor

專業解析

矽栅互補金屬氧化物半導體(Silicon-Gate Complementary Metal-Oxide-Semiconductor),簡稱 CMOS,是現代集成電路的核心技術。以下從漢英詞典角度詳細解釋其含義及技術要點:


一、術語分解與定義

  1. 矽栅 (Silicon Gate)

    指使用多晶矽(Polycrystalline Silicon) 替代早期金屬鋁作為MOS晶體管栅極材料的技術。相較于金屬栅,矽栅具有更高熔點、更優界面特性,并能實現自對準工藝,大幅提升器件密度與性能。

  2. 互補 (Complementary)

    指電路設計中同時采用N型MOS(NMOS) 與P型MOS(PMOS) 晶體管。兩者工作特性互補:NMOS導通時PMOS截止,反之亦然。這種結構顯著降低靜态功耗,奠定低功耗芯片基礎。

  3. 金屬氧化物半導體 (Metal-Oxide-Semiconductor)

    描述晶體管的三層結構:

    • 金屬層(Metal):現代工藝中多為多晶矽或銅互連。
    • 氧化物層(Oxide):二氧化矽(SiO₂)或高介電常數(High-k)材料作為栅介質。
    • 半導體層(Semiconductor):矽襯底,通過摻雜形成源極/漏極區域。

二、核心技術特征

  1. 低功耗優勢

    靜态下NMOS與PMOS總有一個截止,電流僅存于狀态切換瞬間,功耗可比雙極型技術低1-2個數量級。

  2. 高集成度

    矽栅自對準工藝允許晶體管尺寸微縮至納米級,例如5nm制程可在1平方毫米集成數億晶體管。

  3. 噪聲容限高

    邏輯電平擺幅接近電源電壓(如0V/VDD),抗幹擾能力強于TTL等電路。


三、典型應用領域


四、技術演進裡程碑

時期 關鍵技術突破 影響
1963年 弗蘭克·萬拉斯發明CMOS(RCA公司) 奠定理論基礎
1968年 羅伯特·諾伊斯實現矽栅工藝(Intel) 解決金屬栅工藝漏電問題
2007年 High-k/金屬栅引入(Intel 45nm) 突破二氧化矽物理極限,延續摩爾定律

參考文獻

  1. 《半導體器件物理與工藝》(施敏著)

    經典教材詳解MOSFET物理模型與制程技術。

  2. IEEE電子器件期刊

    "Scaling Challenges of CMOS Technology toward 1nm Node" (2023年綜述)。

  3. 英特爾技術白皮書

    "High-k/Metal Gate Stack Innovation for 22nm CMOS" (2011年)。

注:因鍊接有效性要求,此處僅标注文獻來源。實際引用時建議通過IEEE Xplore、SpringerLink等學術平台獲取原文。

網絡擴展解釋

“矽栅互補金屬氧化物半導體”是CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)技術的一種具體實現形式,其核心結合了互補型晶體管結構與矽基栅極材料的特性。以下是詳細解釋:


1.基本概念


2.技術特點


3.應用領域


4.與其他技術的對比

特性 矽栅CMOS 傳統雙極型晶體管
功耗 極低(納瓦級) 較高
集成密度
制造工藝 标準化矽基工藝 複雜

“矽栅互補金屬氧化物半導體”本質是通過多晶矽栅極工藝實現的CMOS技術,兼具低功耗、高集成度和穩定性,是現代電子設備的基石。如需進一步了解制造工藝或電路設計,可參考學術文獻或專業資料。

分類

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