
【計】 silicon gate complementary MOS
silicon
【醫】 Si; silicium; silicon
bar
【計】 CMOS; complementary metal oxide semiconductor
矽栅互補金屬氧化物半導體(Silicon-Gate Complementary Metal-Oxide-Semiconductor),簡稱 CMOS,是現代集成電路的核心技術。以下從漢英詞典角度詳細解釋其含義及技術要點:
矽栅 (Silicon Gate)
指使用多晶矽(Polycrystalline Silicon) 替代早期金屬鋁作為MOS晶體管栅極材料的技術。相較于金屬栅,矽栅具有更高熔點、更優界面特性,并能實現自對準工藝,大幅提升器件密度與性能。
互補 (Complementary)
指電路設計中同時采用N型MOS(NMOS) 與P型MOS(PMOS) 晶體管。兩者工作特性互補:NMOS導通時PMOS截止,反之亦然。這種結構顯著降低靜态功耗,奠定低功耗芯片基礎。
金屬氧化物半導體 (Metal-Oxide-Semiconductor)
描述晶體管的三層結構:
低功耗優勢
靜态下NMOS與PMOS總有一個截止,電流僅存于狀态切換瞬間,功耗可比雙極型技術低1-2個數量級。
高集成度
矽栅自對準工藝允許晶體管尺寸微縮至納米級,例如5nm制程可在1平方毫米集成數億晶體管。
噪聲容限高
邏輯電平擺幅接近電源電壓(如0V/VDD),抗幹擾能力強于TTL等電路。
時期 | 關鍵技術突破 | 影響 |
---|---|---|
1963年 | 弗蘭克·萬拉斯發明CMOS(RCA公司) | 奠定理論基礎 |
1968年 | 羅伯特·諾伊斯實現矽栅工藝(Intel) | 解決金屬栅工藝漏電問題 |
2007年 | High-k/金屬栅引入(Intel 45nm) | 突破二氧化矽物理極限,延續摩爾定律 |
經典教材詳解MOSFET物理模型與制程技術。
"Scaling Challenges of CMOS Technology toward 1nm Node" (2023年綜述)。
"High-k/Metal Gate Stack Innovation for 22nm CMOS" (2011年)。
注:因鍊接有效性要求,此處僅标注文獻來源。實際引用時建議通過IEEE Xplore、SpringerLink等學術平台獲取原文。
“矽栅互補金屬氧化物半導體”是CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)技術的一種具體實現形式,其核心結合了互補型晶體管結構與矽基栅極材料的特性。以下是詳細解釋:
特性 | 矽栅CMOS | 傳統雙極型晶體管 |
---|---|---|
功耗 | 極低(納瓦級) | 較高 |
集成密度 | 高 | 低 |
制造工藝 | 标準化矽基工藝 | 複雜 |
“矽栅互補金屬氧化物半導體”本質是通過多晶矽栅極工藝實現的CMOS技術,兼具低功耗、高集成度和穩定性,是現代電子設備的基石。如需進一步了解制造工藝或電路設計,可參考學術文獻或專業資料。
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