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硅栅互补金属氧化物半导体英文解释翻译、硅栅互补金属氧化物半导体的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【计】 silicon gate complementary MOS

分词翻译:

硅的英语翻译:

silicon
【医】 Si; silicium; silicon

栅的英语翻译:

bar

互补金属氧化物半导体的英语翻译:

【计】 CMOS; complementary metal oxide semiconductor

专业解析

硅栅互补金属氧化物半导体(Silicon-Gate Complementary Metal-Oxide-Semiconductor),简称 CMOS,是现代集成电路的核心技术。以下从汉英词典角度详细解释其含义及技术要点:


一、术语分解与定义

  1. 硅栅 (Silicon Gate)

    指使用多晶硅(Polycrystalline Silicon) 替代早期金属铝作为MOS晶体管栅极材料的技术。相较于金属栅,硅栅具有更高熔点、更优界面特性,并能实现自对准工艺,大幅提升器件密度与性能。

  2. 互补 (Complementary)

    指电路设计中同时采用N型MOS(NMOS) 与P型MOS(PMOS) 晶体管。两者工作特性互补:NMOS导通时PMOS截止,反之亦然。这种结构显著降低静态功耗,奠定低功耗芯片基础。

  3. 金属氧化物半导体 (Metal-Oxide-Semiconductor)

    描述晶体管的三层结构:

    • 金属层(Metal):现代工艺中多为多晶硅或铜互连。
    • 氧化物层(Oxide):二氧化硅(SiO₂)或高介电常数(High-k)材料作为栅介质。
    • 半导体层(Semiconductor):硅衬底,通过掺杂形成源极/漏极区域。

二、核心技术特征

  1. 低功耗优势

    静态下NMOS与PMOS总有一个截止,电流仅存于状态切换瞬间,功耗可比双极型技术低1-2个数量级。

  2. 高集成度

    硅栅自对准工艺允许晶体管尺寸微缩至纳米级,例如5nm制程可在1平方毫米集成数亿晶体管。

  3. 噪声容限高

    逻辑电平摆幅接近电源电压(如0V/VDD),抗干扰能力强于TTL等电路。


三、典型应用领域


四、技术演进里程碑

时期 关键技术突破 影响
1963年 弗兰克·万拉斯发明CMOS(RCA公司) 奠定理论基础
1968年 罗伯特·诺伊斯实现硅栅工艺(Intel) 解决金属栅工艺漏电问题
2007年 High-k/金属栅引入(Intel 45nm) 突破二氧化硅物理极限,延续摩尔定律

参考文献

  1. 《半导体器件物理与工艺》(施敏著)

    经典教材详解MOSFET物理模型与制程技术。

  2. IEEE电子器件期刊

    "Scaling Challenges of CMOS Technology toward 1nm Node" (2023年综述)。

  3. 英特尔技术白皮书

    "High-k/Metal Gate Stack Innovation for 22nm CMOS" (2011年)。

注:因链接有效性要求,此处仅标注文献来源。实际引用时建议通过IEEE Xplore、SpringerLink等学术平台获取原文。

网络扩展解释

“硅栅互补金属氧化物半导体”是CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)技术的一种具体实现形式,其核心结合了互补型晶体管结构与硅基栅极材料的特性。以下是详细解释:


1.基本概念


2.技术特点


3.应用领域


4.与其他技术的对比

特性 硅栅CMOS 传统双极型晶体管
功耗 极低(纳瓦级) 较高
集成密度
制造工艺 标准化硅基工艺 复杂

“硅栅互补金属氧化物半导体”本质是通过多晶硅栅极工艺实现的CMOS技术,兼具低功耗、高集成度和稳定性,是现代电子设备的基石。如需进一步了解制造工艺或电路设计,可参考学术文献或专业资料。

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