
【计】 silicon gate complementary MOS
silicon
【医】 Si; silicium; silicon
bar
【计】 CMOS; complementary metal oxide semiconductor
硅栅互补金属氧化物半导体(Silicon-Gate Complementary Metal-Oxide-Semiconductor),简称 CMOS,是现代集成电路的核心技术。以下从汉英词典角度详细解释其含义及技术要点:
硅栅 (Silicon Gate)
指使用多晶硅(Polycrystalline Silicon) 替代早期金属铝作为MOS晶体管栅极材料的技术。相较于金属栅,硅栅具有更高熔点、更优界面特性,并能实现自对准工艺,大幅提升器件密度与性能。
互补 (Complementary)
指电路设计中同时采用N型MOS(NMOS) 与P型MOS(PMOS) 晶体管。两者工作特性互补:NMOS导通时PMOS截止,反之亦然。这种结构显著降低静态功耗,奠定低功耗芯片基础。
金属氧化物半导体 (Metal-Oxide-Semiconductor)
描述晶体管的三层结构:
低功耗优势
静态下NMOS与PMOS总有一个截止,电流仅存于状态切换瞬间,功耗可比双极型技术低1-2个数量级。
高集成度
硅栅自对准工艺允许晶体管尺寸微缩至纳米级,例如5nm制程可在1平方毫米集成数亿晶体管。
噪声容限高
逻辑电平摆幅接近电源电压(如0V/VDD),抗干扰能力强于TTL等电路。
时期 | 关键技术突破 | 影响 |
---|---|---|
1963年 | 弗兰克·万拉斯发明CMOS(RCA公司) | 奠定理论基础 |
1968年 | 罗伯特·诺伊斯实现硅栅工艺(Intel) | 解决金属栅工艺漏电问题 |
2007年 | High-k/金属栅引入(Intel 45nm) | 突破二氧化硅物理极限,延续摩尔定律 |
经典教材详解MOSFET物理模型与制程技术。
"Scaling Challenges of CMOS Technology toward 1nm Node" (2023年综述)。
"High-k/Metal Gate Stack Innovation for 22nm CMOS" (2011年)。
注:因链接有效性要求,此处仅标注文献来源。实际引用时建议通过IEEE Xplore、SpringerLink等学术平台获取原文。
“硅栅互补金属氧化物半导体”是CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)技术的一种具体实现形式,其核心结合了互补型晶体管结构与硅基栅极材料的特性。以下是详细解释:
特性 | 硅栅CMOS | 传统双极型晶体管 |
---|---|---|
功耗 | 极低(纳瓦级) | 较高 |
集成密度 | 高 | 低 |
制造工艺 | 标准化硅基工艺 | 复杂 |
“硅栅互补金属氧化物半导体”本质是通过多晶硅栅极工艺实现的CMOS技术,兼具低功耗、高集成度和稳定性,是现代电子设备的基石。如需进一步了解制造工艺或电路设计,可参考学术文献或专业资料。
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