
【醫】 curvature of the microscopic
微觀場曲率(Microscopic Field Curvature)是光學成像系統中的一種像差,指成像平面并非理想平面,而是呈現彎曲的曲面狀态。該現象在顯微鏡等微觀觀測系統中尤為顯著,會導緻圖像邊緣與中心區域的焦點不一緻,影響成像清晰度。其英文術語通常表述為Field Curvature 或Curvature of Field。
光學定義
微觀場曲率源于光學系統對不同視場角的光線聚焦能力差異。當平行光線通過透鏡時,離軸光線(邊緣光線)與近軸光線(中心光線)無法彙聚于同一平面,形成彎曲的焦平面(Petzval曲面)。公式可表示為:
$$ frac{1}{R_p} = sum frac{1}{n_i f_i} $$
其中 ( R_p ) 為Petzval曲率半徑,( n_i ) 和 ( f_i ) 分别為透鏡組元的折射率與焦距。
對成像的影響
校正方法
中文術語 | 英文術語 |
---|---|
微觀場曲率 | Microscopic Field Curvature |
佩茨瓦爾曲面 | Petzval Surface |
像面彎曲 | Image Surface Curvature |
離軸像差 | Off-Axis Aberration |
注:部分專業文獻将場曲率歸類為像散的特殊表現形式,需結合具體光學系統分析。
“微觀場曲率”是一個結合了“曲率”“場曲率”和“微觀”概念的複合術語。以下是綜合搜索結果的解釋:
結合上述概念,微觀場曲率可理解為:
若需數學表達,微觀場曲率可參考曲率的微分定義: $$ k = lim_{Delta l to 0} frac{Delta alpha}{Delta l} = frac{dalpha}{dl} $$ 其中 $Delta alpha$ 是切線角變化量,$Delta l$ 是線元長度。
該術語強調微觀尺度下場(物理場或幾何場)的局部彎曲特性,需結合具體領域(如光學、相對論)進一步分析。由于搜索結果未直接定義“微觀場曲率”,以上解釋基于相關概念的整合推斷。
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