
【医】 curvature of the microscopic
微观场曲率(Microscopic Field Curvature)是光学成像系统中的一种像差,指成像平面并非理想平面,而是呈现弯曲的曲面状态。该现象在显微镜等微观观测系统中尤为显著,会导致图像边缘与中心区域的焦点不一致,影响成像清晰度。其英文术语通常表述为Field Curvature 或Curvature of Field。
光学定义
微观场曲率源于光学系统对不同视场角的光线聚焦能力差异。当平行光线通过透镜时,离轴光线(边缘光线)与近轴光线(中心光线)无法汇聚于同一平面,形成弯曲的焦平面(Petzval曲面)。公式可表示为:
$$ frac{1}{R_p} = sum frac{1}{n_i f_i} $$
其中 ( R_p ) 为Petzval曲率半径,( n_i ) 和 ( f_i ) 分别为透镜组元的折射率与焦距。
对成像的影响
校正方法
中文术语 | 英文术语 |
---|---|
微观场曲率 | Microscopic Field Curvature |
佩茨瓦尔曲面 | Petzval Surface |
像面弯曲 | Image Surface Curvature |
离轴像差 | Off-Axis Aberration |
注:部分专业文献将场曲率归类为像散的特殊表现形式,需结合具体光学系统分析。
“微观场曲率”是一个结合了“曲率”“场曲率”和“微观”概念的复合术语。以下是综合搜索结果的解释:
结合上述概念,微观场曲率可理解为:
若需数学表达,微观场曲率可参考曲率的微分定义: $$ k = lim_{Delta l to 0} frac{Delta alpha}{Delta l} = frac{dalpha}{dl} $$ 其中 $Delta alpha$ 是切线角变化量,$Delta l$ 是线元长度。
该术语强调微观尺度下场(物理场或几何场)的局部弯曲特性,需结合具体领域(如光学、相对论)进一步分析。由于搜索结果未直接定义“微观场曲率”,以上解释基于相关概念的整合推断。
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