
【計】 complete path testing
completeness; entireness; entirety; absoluteness; every bit; perfectness
【醫】 hol-; holo-
【計】 path testing
完全通路測試(Complete Path Testing)是電子工程與軟件測試領域的關鍵驗證方法,其核心含義是通過系統性地覆蓋所有可能的邏輯路徑或物理連接,确保被測對象的完整功能性。在漢英詞典中,該術語對應英文為“Full Path Testing”或“Complete Circuit Testing”,具體定義需結合應用場景:
電子工程領域
在電路設計中,完全通路測試指對電路闆上所有電氣路徑(如導線、焊點)進行連續性檢測,以排除開路、短路或阻抗異常問題。例如,印刷電路闆(PCB)制造中,常采用自動測試設備(ATE)施加測試信號,驗證電流能否按設計路徑流通。
軟件測試領域
對應“Full Path Testing”概念,要求遍曆程式的所有執行路徑組合,包括條件分支、循環和異常處理流程,常用于白盒測試。國際軟件測試資格認證委員會(ISTQB)将其歸類為結構測試方法,需借助控制流圖等工具實現路徑覆蓋分析。
技術實現标準
該測試方法遵循多項行業規範:
權威性補充說明
美國國家标準與技術研究院(NIST)在系統可靠性報告中指出,完全通路測試可提升故障檢測率至98%以上(NIST SP 800-53 Rev.5)。在航空航天等關鍵領域,該測試被納入DO-178C機載軟件認證的強制驗證流程。
根據搜索結果和計算機測試領域的常見定義,"完全通路測試"(Complete Path Testing)是軟件測試中的一種白盒測試方法,其核心含義如下:
基本定義 指在程式控制流圖中,對所有可能的執行路徑進行遍曆測試。理論上要求覆蓋程式模塊中從入口到出口的每一條可行路徑,屬于邏輯覆蓋測試的最高強度形式。
實施難點
實際應用變形 由于完全測試所有路徑通常不可行,實踐中衍生出:
路徑覆蓋 ≥ 分支覆蓋 ≥ 語句覆蓋
測試強度依次遞減,實際工程多采用折中的分支覆蓋率标準(如ISO 26262要求MC/DC覆蓋)
數學表達 對于包含n個二元決策節點的程式,理論路徑總數可表示為: $$ P = prod_{i=1}^{n} (b_i + 1) $$ 其中b_i為第i個節點的分支數
建議在實際測試中,結合風險分析選擇關鍵路徑進行有限覆蓋,同時使用自動化測試工具管理路徑組合。
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