
【计】 complete path testing
completeness; entireness; entirety; absoluteness; every bit; perfectness
【医】 hol-; holo-
【计】 path testing
完全通路测试(Complete Path Testing)是电子工程与软件测试领域的关键验证方法,其核心含义是通过系统性地覆盖所有可能的逻辑路径或物理连接,确保被测对象的完整功能性。在汉英词典中,该术语对应英文为“Full Path Testing”或“Complete Circuit Testing”,具体定义需结合应用场景:
电子工程领域
在电路设计中,完全通路测试指对电路板上所有电气路径(如导线、焊点)进行连续性检测,以排除开路、短路或阻抗异常问题。例如,印刷电路板(PCB)制造中,常采用自动测试设备(ATE)施加测试信号,验证电流能否按设计路径流通。
软件测试领域
对应“Full Path Testing”概念,要求遍历程序的所有执行路径组合,包括条件分支、循环和异常处理流程,常用于白盒测试。国际软件测试资格认证委员会(ISTQB)将其归类为结构测试方法,需借助控制流图等工具实现路径覆盖分析。
技术实现标准
该测试方法遵循多项行业规范:
权威性补充说明
美国国家标准与技术研究院(NIST)在系统可靠性报告中指出,完全通路测试可提升故障检测率至98%以上(NIST SP 800-53 Rev.5)。在航空航天等关键领域,该测试被纳入DO-178C机载软件认证的强制验证流程。
根据搜索结果和计算机测试领域的常见定义,"完全通路测试"(Complete Path Testing)是软件测试中的一种白盒测试方法,其核心含义如下:
基本定义 指在程序控制流图中,对所有可能的执行路径进行遍历测试。理论上要求覆盖程序模块中从入口到出口的每一条可行路径,属于逻辑覆盖测试的最高强度形式。
实施难点
实际应用变形 由于完全测试所有路径通常不可行,实践中衍生出:
路径覆盖 ≥ 分支覆盖 ≥ 语句覆盖
测试强度依次递减,实际工程多采用折中的分支覆盖率标准(如ISO 26262要求MC/DC覆盖)
数学表达 对于包含n个二元决策节点的程序,理论路径总数可表示为: $$ P = prod_{i=1}^{n} (b_i + 1) $$ 其中b_i为第i个节点的分支数
建议在实际测试中,结合风险分析选择关键路径进行有限覆盖,同时使用自动化测试工具管理路径组合。
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