掃描測試英文解釋翻譯、掃描測試的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 sweep test

分詞翻譯：

掃描的英語翻譯：

scan; scanning
【計】 fineness; scanning
【醫】 scanning

測試的英語翻譯：

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

專業解析

在電子工程與軟件測試領域中，"掃描測試"（Scan Testing）指通過系統化檢測流程識别潛在缺陷的技術方法。從漢英雙解角度分析，該術語對應以下兩種應用場景：

1. 集成電路測試在芯片制造領域，掃描測試指通過插入可控制的掃描鍊（Scan Chain）實現電路節點狀态抓取與驗證的自動化檢測技術。其核心原理是将芯片内部寄存器重構為串行移位寄存器，通過輸入測試向量（Test Vector）并對比輸出響應，定位制造缺陷或設計錯誤。此方法由《超大規模集成電路測試方法學》（作者：谷海橋）第三章詳細闡述。

2. 軟件安全檢測在計算機安全領域，掃描測試指利用自動化工具對軟件系統執行漏洞掃描（Vulnerability Scanning）的過程。典型應用包括：靜态代碼掃描（SAST）、動态應用掃描（DAST）和依賴項掃描，遵循ISO/IEC 27034标準中的應用程式安全控制規範。美國國家标準與技術研究院（NIST）SP 800-115技術指南将其定義為"系統性安全評估方法"。

該術語在IEEE 1149.1邊界掃描測試标準中具有明确定義，其英文全稱為"Boundary Scan Testing"，特指通過芯片管腳狀态監測實現印刷電路闆互連故障診斷的技術體系。

網絡擴展解釋

掃描測試是一種通過結構化設計方法提升電子器件測試效率的技術，主要應用于集成電路和邏輯單元檢測。以下是詳細解釋：

1.定義與核心原理

掃描測試通過在器件内部嵌入特殊測試電路（即掃描設計），将複雜的時序邏輯電路轉換為可串行控制的掃描鍊，實現“分而治之”的測試策略。其核心原理是将電路中的存儲單元（如觸發器）替換為可掃描單元，使測試時能像移位寄存器一樣逐位輸入/輸出測試數據，從而降低測試生成的複雜度。

2.應用領域

集成電路測試：主要用于邏輯單元的功能驗證，尤其適用于大規模集成電路（如CPU、GPU）的缺陷檢測。
存儲單元測試：現代存儲單元更多采用内建自測試（BIST），而掃描測試則側重于邏輯部分。
參數化測試：部分場景下也用于電壓、頻率等參數的掃描，例如通過調整電壓步幅分階段檢測晶體管性能。

3.典型測試流程

掃描測試通常包含以下步驟：

掃描鍊插入：設計階段将掃描單元集成到電路中。
測試向量生成：通過算法生成輸入信號（測試激勵）和預期輸出。
數據加載與捕獲：将測試數據串行輸入掃描鍊，運行後捕獲響應結果。
結果分析：對比實際輸出與預期值，定位故障。

4.優勢與挑戰

優勢：顯著降低測試開發時間，提升故障覆蓋率；支持自動化測試流程。
挑戰：增加芯片面積和功耗；需平衡測試覆蓋率與成本。

5.擴展應用示例

音頻測量：掃描法可用于檢測設備的頻率響應，如通過步進式掃描分析線性度。
醫學成像：CT、MRI等掃描技術雖屬不同領域，但原理上均涉及系統化數據采集與分析。

如需進一步了解具體實現（如電壓掃描步驟），可參考專利文獻，或結合行業标準文檔深化學習。