透射式電子顯微鏡英文解釋翻譯、透射式電子顯微鏡的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 transmission electron microscope

分詞翻譯：

透的英語翻譯：

appear; fully; pass through; penetrate; tell secretly
【機】 permease

射的英語翻譯：

discharge in a jet; fire; insinuate; send out; shoot
【醫】 ray

式的英語翻譯：

ceremony; formula; model; pattern; ritual; style; type
【化】 expression
【醫】 F.; feature; formula; Ty.; type

電子顯微鏡的英語翻譯：

【化】 electron microscope
【醫】 electron microscope

專業解析

透射式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種利用高能電子束穿透超薄樣品，通過電磁透鏡成像和分析樣品内部微觀結構的高分辨率顯微設備。其工作原理基于電子束與樣品原子的相互作用，透射電子經放大後形成明暗襯度的圖像，可揭示材料在原子尺度的晶體結構、缺陷及成分分布。

核心組成與工作原理

電子源與照明系統
采用場發射電子槍（Field Emission Gun, FEG）産生高亮度、高相幹性電子束，經聚光鏡聚焦後照射到樣品表面。電子束加速電壓通常在80-300 kV範圍内，波長極短（如200 kV時約0.0025 nm），為原子級分辨率提供基礎（來源：中國科學院物理研究所《電子顯微學原理》）。
樣品相互作用與成像
電子束穿透樣品（厚度通常<100 nm）時，部分電子因散射被遮擋，未散射電子通過物鏡形成衍射花樣或相位襯度像。物鏡球差校正器可進一步将分辨率提升至0.05 nm以下，實現單原子成像（來源：Nature期刊《球差校正電鏡技術進展》）。
信號檢測與分析
透射電子經多級磁透鏡放大後，由熒光屏或CCD相機記錄圖像。配合能譜儀（EDS）或電子能量損失譜儀（EELS），可同步分析元素組成及化學态（來源：美國材料試驗協會标準 ASTM E2090）。

核心應用領域

材料科學：觀察晶體缺陷（位錯、層錯）、納米顆粒尺寸分布及界面原子結構（來源：Science期刊《高溫超導體微觀機制研究》）。
生命科學：冷凍電鏡技術（Cryo-TEM）解析蛋白質三維結構，如病毒衣殼組裝機制（來源：諾貝爾化學獎委員會官網）。
半導體工業：芯片工藝中界面缺陷分析與失效機理研究（來源：IEEE Transactions on Electron Devices）。

技術優勢與局限

分辨率：可達0.1 nm級，遠超光學顯微鏡（~200 nm）。
局限：樣品制備複雜（需超薄切片或離子減薄），真空環境限制活體觀測，高能電子束可能引發放射損傷。

參考文獻來源：
: 中國科學院物理研究所《電子顯微學原理》（專著）

: Nature 539, 263–267 (2016)

: ASTM E2090-19 Standard Guide for Use of Electron Beam Instruments

: Science 358, 6363 (2017)

: Nobel Prize in Chemistry 2017 Technical Background

: IEEE Trans. Electron Dev. 65(8), 3129-3136 (2018)

網絡擴展解釋

透射式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品進行顯微成像的設備，其核心原理和特點如下：

一、定義與基本原理

定義
TEM通過加速電子束穿透超薄樣品（通常厚度<100 nm），根據電子與原子作用産生的散射差異成像。其分辨率可達0.1-0.2納米，放大倍數達百萬倍，遠超光學顯微鏡（）。
成像原理
- 電子束經電磁透鏡聚焦後穿透樣品，與原子發生散射，散射角度與樣品密度、厚度相關，形成明暗對比的影像（）。
- 阿貝公式（$$ r = frac{λ}{2nsinα} $$）顯示，電子波長（λ）極短（如100 keV電子波長為0.0037 nm），因此分辨率遠高于光學顯微鏡（）。

二、技術發展

曆史背景
1933年由德國科學家盧斯卡和克諾爾發明第一台TEM，1939年西門子實現量産，初始分辨率比光學顯微鏡提高20倍（）。
技術進步
現代TEM分辨率達亞埃級（<0.1 nm），可觀察單列原子結構（）。

三、核心優勢

高分辨率
電子波長極短，結合電磁透鏡校正技術，實現原子級成像（）。
多功能性
支持明場成像（透射電子為主）和暗場成像（散射電子為主），用于分析晶體結構、缺陷等（）。

四、應用領域

材料科學：觀察納米材料、金屬晶格等超微結構。
生物學：解析病毒、細胞器等亞顯微結構（）。
化學：分析催化劑表面原子排布（）。

五、工作流程示例

電子槍發射高能電子束；
聚光鏡聚焦電子束至樣品；
透射電子經物鏡、中間鏡、投影鏡多級放大；
熒光屏或探測器轉換為可見圖像（）。

參考資料

更完整信息可參考中國科學院網頁（）及透射電鏡工作示意圖（）。