
【化】 interferometric analysis; interferometry
interfere; intervene; intermeddle; interpose; meddle; interference
interposition
【化】 interference
【医】 interfere; interference
measurement
【医】 measurement
【医】 analytical method
干涉量度分析法(Interferometric Analysis Method)是一种基于光学干涉原理的精密测量技术,主要用于检测物体表面的微观形变、位移或折射率变化。该方法通过分析两束相干光波叠加产生的干涉条纹,提取相位信息并转化为量化数据。其核心原理可表述为:
$$ Delta phi = frac{4pi}{lambda}(n cdot d + Delta L) $$ 其中$Delta phi$为相位差,$lambda$为光波长,$n$为介质折射率,$d$为被测物体厚度,$Delta L$为光程变化量。
在工业检测领域,该方法可实现纳米级精度测量,《Springer光学工程手册》指出其广泛应用于半导体晶圆缺陷检测和光学元件面形分析。NASA的激光干涉仪引力波观测站(LIGO)正是运用该技术成功捕获引力波信号,证实了爱因斯坦广义相对论预言。
根据《中国光学学报》最新研究,相位偏移干涉量度技术(PSI)通过五步相移算法将测量不确定度降低至λ/100以下,显著提升了生物细胞膜弹性模量测定的准确性。
参考来源:
干涉量度分析法是一种基于光学干涉原理的高精度测量技术,主要用于通过分析干涉条纹的变化来获取被测物体的物理特性。以下是其核心要点:
该方法以光的波动性为基础,利用两束或多束相干光叠加产生的干涉现象。当光程差发生变化时,干涉条纹会随之移动,通过观测条纹位移量即可推导出被测参数(如长度、折射率等)。
1892年迈克尔逊首次用干涉仪将标准米与镉红线波长关联,1960年国际计量局正式采用氪-86光谱线作为长度基准,标志着该技术进入标准化阶段。
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