幹涉量度分析法英文解釋翻譯、幹涉量度分析法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 interferometric analysis; interferometry

interfere; intervene; intermeddle; interpose; meddle; interference
interposition
【化】 interference
【醫】 interfere; interference

measurement
【醫】 measurement

【醫】 analytical method

幹涉量度分析法（Interferometric Analysis Method）是一種基于光學幹涉原理的精密測量技術，主要用于檢測物體表面的微觀形變、位移或折射率變化。該方法通過分析兩束相幹光波疊加産生的幹涉條紋，提取相位信息并轉化為量化數據。其核心原理可表述為：

$$ Delta phi = frac{4pi}{lambda}(n cdot d + Delta L) $$ 其中$Delta phi$為相位差，$lambda$為光波長，$n$為介質折射率，$d$為被測物體厚度，$Delta L$為光程變化量。

在工業檢測領域，該方法可實現納米級精度測量，《Springer光學工程手冊》指出其廣泛應用于半導體晶圓缺陷檢測和光學元件面形分析。NASA的激光幹涉儀引力波觀測站（LIGO）正是運用該技術成功捕獲引力波信號，證實了愛因斯坦廣義相對論預言。

根據《中國光學學報》最新研究，相位偏移幹涉量度技術（PSI）通過五步相移算法将測量不确定度降低至λ/100以下，顯著提升了生物細胞膜彈性模量測定的準确性。

參考來源：

幹涉量度分析法是一種基于光學幹涉原理的高精度測量技術，主要用于通過分析幹涉條紋的變化來獲取被測物體的物理特性。以下是其核心要點：

該方法以光的波動性為基礎，利用兩束或多束相幹光疊加産生的幹涉現象。當光程差發生變化時，幹涉條紋會隨之移動，通過觀測條紋位移量即可推導出被測參數（如長度、折射率等）。

核心裝置：依賴幹涉儀（如邁克爾遜幹涉儀）實現光的分束與合束。激光器的應用顯著提升了光源的相幹性和測量精度。
關鍵公式：幹涉條紋間距與波長關系可表示為： $$ Delta x = frac{lambda L}{d} $$ 其中$lambda$為波長，$L$為光程，$d$為光源間距。

1892年邁克爾遜首次用幹涉儀将标準米與镉紅線波長關聯，1960年國際計量局正式采用氪-86光譜線作為長度基準，标志着該技術進入标準化階段。

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