电平相关扫描设计法英文解释翻译、电平相关扫描设计法的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 level-sensitive scan design; LSSD

分词翻译：

电的英语翻译：

electricity
【计】 telewriting
【化】 electricity
【医】 Elec.; electricity; electro-; galvano-

平的英语翻译：

calm; draw; equal; even; flat; peaceful; plane; smooth; suppress; tie
【医】 plano-

扫描的英语翻译：

scan; scanning
【计】 fineness; scanning
【医】 scanning

设计的英语翻译：

design; devise; contrive; project; engineer; frame; plan; programming; scheme
【化】 design
【医】 project
【经】 projection

法的英语翻译：

dharma; divisor; follow; law; standard
【医】 method
【经】 law

专业解析

电平相关扫描设计法（Level-Sensitive Scan Design, LSSD）是一种广泛应用于数字集成电路测试的可测性设计（Design for Testability, DFT）技术。其核心思想是通过在电路中插入可控制的扫描链结构，将内部存储单元（如触发器）转化为可串行访问的移位寄存器，从而实现对电路内部状态的精确控制和观测。以下从汉英词典角度对其关键概念进行解析：

一、术语定义与核心原理

电平相关（Level-Sensitive）
指电路对时钟信号的电平（高/低）敏感而非边沿敏感。在LSSD中，存储单元的更新依赖于时钟电平的稳定状态，而非上升/下降沿。这种设计避免了时序竞争问题，提升测试稳定性。

英文对应：Level-Sensitive → 响应电平而非边沿的时序特性。
扫描设计（Scan Design）
通过将普通触发器替换为扫描触发器（Scan Flip-Flop），并串联成扫描链（Scan Chain）。测试时，扫描链作为移位寄存器，将测试向量串行载入电路内部，并捕获响应输出。

英文对应：Scan Design → 基于扫描链的测试结构设计。

二、工作流程与关键技术点

扫描链操作模式
- 正常模式（Normal Mode）：电路执行功能逻辑。
- 扫描模式（Scan Mode）：外部测试设备通过扫描输入（Scan-In）端口串行载入测试数据，并通过扫描输出（Scan-Out）端口串行读出响应数据。
双时钟控制机制
LSSD采用两个非重叠时钟（如Clock A和Clock B）控制扫描触发器：
- Clock A激活时，数据从扫描输入端（SI）载入。
- Clock B激活时，数据从功能逻辑输入端（D）载入或输出至功能逻辑。
  双时钟设计确保电平敏感操作无冲突。

三、优势与应用场景

优势
- 高故障覆盖率：可实现对组合逻辑和时序逻辑的全面测试。
- 低测试复杂度：通过自动化测试向量生成（ATPG）简化测试流程。
- 抗时序扰动：电平敏感设计降低对时钟抖动的敏感性。
典型应用
- 超大规模集成电路（VLSI）的制造测试。
- 处理器、通信芯片等高性能数字IC的可靠性验证。

四、权威参考文献

IEEE标准文献
- E.J. McCluskey, "Design for Testability" (1984), 首次系统阐述LSSD原理。
- IEEE Std 1149.1 (JTAG)：扩展了扫描测试标准，兼容LSSD思想。
  来源：IEEE Xplore Digital Library
经典教材
- M. Abramovici et al., "Digital Systems Testing and Testable Design" (1990), 第9章详解LSSD实现。
  来源：Wiley Online Library
行业白皮书
- Synopsys, "DFT Fundamentals: Scan and ATPG" (2023), 介绍LSSD在现代EDA工具中的应用。
  来源：Synopsys官网资源库

五、技术演进与关联概念

扩展技术：部分扫描（Partial Scan）、内建自测试（BIST）。
对比方法：与边沿敏感扫描（如Mux-D扫描）相比，LSSD更适用于高速低功耗设计。

注：本文内容综合集成电路测试领域的经典理论与行业实践，核心原理与术语定义参考IEEE标准及权威教材。

网络扩展解释

电平相关扫描设计法（Level-Sensitive Scan Design, LSSD）是一种用于数字电路测试的结构化设计方法，由IBM公司于1977年提出。以下是其核心要点：

1.基本定义与目的

核心思想：通过引入可控制的扫描路径，实现对电路内部触发器状态的完全控制与观察，从而简化时序电路测试复杂度。
主要目标：解决传统时序电路测试中状态难以直接访问的问题，提升电路可测试性。

2.核心原理

电平敏感特性：电路对输入电平信号敏感而非边沿触发，确保在稳定电平下完成状态切换，避免竞争冒险。
双锁存器结构：采用主从锁存器（Master-Slave Latch）构成移位寄存器链。主锁存器用于正常工作模式，从锁存器专用于扫描测试模式。

3.工作模式

正常模式：电路按功能需求运行，组合逻辑与触发器协同工作。
扫描模式：
- 通过外部输入将测试数据串行加载到移位寄存器链中，控制内部触发器状态；
- 执行功能测试后，再将状态数据串行移出供分析。

4.技术优势

抗干扰性：电平敏感设计降低了对时钟边沿精度的依赖，减少时序问题。
可测试性：支持自动化测试向量生成（ATPG），适用于超大规模集成电路（VLSI）。
兼容性：与随机存取扫描技术互补，后者通过地址编程选择记忆元件，而LSSD通过固定路径实现控制。

5.典型应用

主要用于复杂数字系统（如处理器、通信芯片）的制造测试；
现代芯片设计中常与其他可测性设计（DFT）技术结合使用。

如需进一步了解具体电路实现或测试流程，可参考集成电路测试相关的专业文献。