電平相關掃描設計法英文解釋翻譯、電平相關掃描設計法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 level-sensitive scan design; LSSD

分詞翻譯：

電的英語翻譯：

electricity
【計】 telewriting
【化】 electricity
【醫】 Elec.; electricity; electro-; galvano-

平的英語翻譯：

calm; draw; equal; even; flat; peaceful; plane; smooth; suppress; tie
【醫】 plano-

掃描的英語翻譯：

scan; scanning
【計】 fineness; scanning
【醫】 scanning

設計的英語翻譯：

design; devise; contrive; project; engineer; frame; plan; programming; scheme
【化】 design
【醫】 project
【經】 projection

法的英語翻譯：

dharma; divisor; follow; law; standard
【醫】 method
【經】 law

專業解析

電平相關掃描設計法（Level-Sensitive Scan Design, LSSD）是一種廣泛應用于數字集成電路測試的可測性設計（Design for Testability, DFT）技術。其核心思想是通過在電路中插入可控制的掃描鍊結構，将内部存儲單元（如觸發器）轉化為可串行訪問的移位寄存器，從而實現對電路内部狀态的精确控制和觀測。以下從漢英詞典角度對其關鍵概念進行解析：

一、術語定義與核心原理

電平相關（Level-Sensitive）
指電路對時鐘信號的電平（高/低）敏感而非邊沿敏感。在LSSD中，存儲單元的更新依賴于時鐘電平的穩定狀态，而非上升/下降沿。這種設計避免了時序競争問題，提升測試穩定性。

英文對應：Level-Sensitive → 響應電平而非邊沿的時序特性。
掃描設計（Scan Design）
通過将普通觸發器替換為掃描觸發器（Scan Flip-Flop），并串聯成掃描鍊（Scan Chain）。測試時，掃描鍊作為移位寄存器，将測試向量串行載入電路内部，并捕獲響應輸出。

英文對應：Scan Design → 基于掃描鍊的測試結構設計。

二、工作流程與關鍵技術點

掃描鍊操作模式
- 正常模式（Normal Mode）：電路執行功能邏輯。
- 掃描模式（Scan Mode）：外部測試設備通過掃描輸入（Scan-In）端口串行載入測試數據，并通過掃描輸出（Scan-Out）端口串行讀出響應數據。
雙時鐘控制機制
LSSD采用兩個非重疊時鐘（如Clock A和Clock B）控制掃描觸發器：
- Clock A激活時，數據從掃描輸入端（SI）載入。
- Clock B激活時，數據從功能邏輯輸入端（D）載入或輸出至功能邏輯。
  雙時鐘設計确保電平敏感操作無沖突。

三、優勢與應用場景

優勢
- 高故障覆蓋率：可實現對組合邏輯和時序邏輯的全面測試。
- 低測試複雜度：通過自動化測試向量生成（ATPG）簡化測試流程。
- 抗時序擾動：電平敏感設計降低對時鐘抖動的敏感性。
典型應用
- 超大規模集成電路（VLSI）的制造測試。
- 處理器、通信芯片等高性能數字IC的可靠性驗證。

四、權威參考文獻

IEEE标準文獻
- E.J. McCluskey, "Design for Testability" (1984), 首次系統闡述LSSD原理。
- IEEE Std 1149.1 (JTAG)：擴展了掃描測試标準，兼容LSSD思想。
  來源：IEEE Xplore Digital Library
經典教材
- M. Abramovici et al., "Digital Systems Testing and Testable Design" (1990), 第9章詳解LSSD實現。
  來源：Wiley Online Library
行業白皮書
- Synopsys, "DFT Fundamentals: Scan and ATPG" (2023), 介紹LSSD在現代EDA工具中的應用。
  來源：Synopsys官網資源庫

五、技術演進與關聯概念

擴展技術：部分掃描（Partial Scan）、内建自測試（BIST）。
對比方法：與邊沿敏感掃描（如Mux-D掃描）相比，LSSD更適用于高速低功耗設計。

注：本文内容綜合集成電路測試領域的經典理論與行業實踐，核心原理與術語定義參考IEEE标準及權威教材。

網絡擴展解釋

電平相關掃描設計法（Level-Sensitive Scan Design, LSSD）是一種用于數字電路測試的結構化設計方法，由IBM公司于1977年提出。以下是其核心要點：

1.基本定義與目的

核心思想：通過引入可控制的掃描路徑，實現對電路内部觸發器狀态的完全控制與觀察，從而簡化時序電路測試複雜度。
主要目标：解決傳統時序電路測試中狀态難以直接訪問的問題，提升電路可測試性。

2.核心原理

電平敏感特性：電路對輸入電平信號敏感而非邊沿觸發，确保在穩定電平下完成狀态切換，避免競争冒險。
雙鎖存器結構：采用主從鎖存器（Master-Slave Latch）構成移位寄存器鍊。主鎖存器用于正常工作模式，從鎖存器專用于掃描測試模式。

3.工作模式

正常模式：電路按功能需求運行，組合邏輯與觸發器協同工作。
掃描模式：
- 通過外部輸入将測試數據串行加載到移位寄存器鍊中，控制内部觸發器狀态；
- 執行功能測試後，再将狀态數據串行移出供分析。

4.技術優勢

抗幹擾性：電平敏感設計降低了對時鐘邊沿精度的依賴，減少時序問題。
可測試性：支持自動化測試向量生成（ATPG），適用于超大規模集成電路（VLSI）。
兼容性：與隨機存取掃描技術互補，後者通過地址編程選擇記憶元件，而LSSD通過固定路徑實現控制。

5.典型應用

主要用于複雜數字系統（如處理器、通信芯片）的制造測試；
現代芯片設計中常與其他可測性設計（DFT）技術結合使用。

如需進一步了解具體電路實現或測試流程，可參考集成電路測試相關的專業文獻。