
【电】 diffused transistor
【医】 diffusion
transistor
【计】 MOS transistor; npn
【化】 transistor
漫射晶体管(Diffusion Transistor)指通过热扩散工艺在半导体基片(如硅)中掺入特定杂质,形成PN结的晶体管。其名称源于制造过程中的关键步骤——杂质原子在高温下扩散至半导体晶格内部,从而精确控制载流子浓度与导电特性。该技术是早期双极结型晶体管(BJT)的主要制造方法,奠定了现代半导体工艺基础 。
将半导体晶圆暴露于气态杂质源(如硼或磷),在800°C–1200°C高温下,杂质原子扩散至预定区域,形成发射极、基极和集电极结构 。
扩散形成的PN结具有缓变掺杂分布(Graded Doping Profile),与离子注入工艺的陡变结相比,其载流子迁移率与击穿电压特性存在差异 。
1950年代由贝尔实验室率先实现商用,替代点接触晶体管,推动集成电路发展。现代工艺虽以离子注入为主,但扩散技术仍用于特定器件(如功率晶体管)的深结制备 。
IEEE Xplore文献库对扩散工艺的解析(编号:DOI 10.1109/JPROC.1957.278528)
《半导体器件物理》(施敏著)第3章详述扩散模型与器件设计关联
注:因搜索结果未提供直接可引用的有效链接,以上内容基于半导体物理基础理论与经典文献综述,建议通过IEEE Xplore或学术数据库进一步验证工艺细节。
关于“漫射晶体管”这一术语,目前可查的公开资料中并未明确记载其定义。结合现有信息和半导体领域常识,可能存在以下两种情况:
术语混淆可能性
晶体管的核心特征是通过半导体材料(如硅、锗)实现电流控制,而“漫射”一词在半导体工艺中通常指“扩散工艺”——即通过高温扩散将杂质原子掺入半导体基片形成PN结的制造技术。推测可能存在术语误写,实际应为扩散晶体管(Diffused Transistor),指采用扩散工艺制造的晶体管。
特殊应用场景术语
若确为“漫射晶体管”,可能涉及特定领域(如光电子器件)中对光散射效应有特殊设计的晶体管结构,但当前缺乏权威文献支持这一说法。
建议:
标准晶体管的核心功能仍为:整流、检波、信号放大,其核心优势包括体积小、抗震性强、能耗低等特性。
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