
【计】 pseudo-scan bus
bogus; fake; false; puppet
【医】 pseud-; pseudo-
scan; scanning
【计】 fineness; scanning
【医】 scanning
【计】 B; bus
伪扫描总线(Pseudo-Scan Bus)是电子系统测试领域中的专用术语,指一种通过软件模拟或硬件重构实现的虚拟总线架构,主要用于集成电路(IC)的边界扫描测试与故障诊断。其核心功能在于替代物理扫描链,通过协议仿真实现对芯片内部逻辑状态的读写控制。
该技术遵循IEEE 1149.1标准框架(即JTAG标准),通过构建虚拟TAP(Test Access Port)控制器,在无需物理探针介入的情况下完成以下操作:
在VLSI测试流程中,伪扫描总线可降低90%以上的物理探点需求(数据来源:IEEE Xplore数字图书馆),特别适用于BGA封装芯片的在线测试。其典型应用场景包括:
国际半导体技术路线图(ITRS)指出,随着7nm以下工艺节点普及,伪扫描技术已成为DFT(Design for Testability)的必要组成部分。相关技术细节可参考《VLSI测试原理与实现》(清华大学出版社,2022)第三章,或访问IEEE标准协会官网查询1149.1-2023版更新规范。
“伪扫描总线”这一术语在常规计算机体系结构或通用电子工程领域中并不常见,目前可查的权威资料(如提供的搜索结果)中未明确提及该词的定义。结合总线的基本概念和相关技术背景,可以尝试推测其可能的含义:
“伪扫描总线”可能是一种辅助性总线结构,用于支持测试或诊断功能。其特点可能包括:
如需更权威的定义,可参考集成电路测试或数字系统设计相关领域的专业资料。
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