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僞掃描總線英文解釋翻譯、僞掃描總線的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【計】 pseudo-scan bus

分詞翻譯:

僞的英語翻譯:

bogus; fake; false; puppet
【醫】 pseud-; pseudo-

掃描的英語翻譯:

scan; scanning
【計】 fineness; scanning
【醫】 scanning

總線的英語翻譯:

【計】 B; bus

專業解析

僞掃描總線(Pseudo-Scan Bus)是電子系統測試領域中的專用術語,指一種通過軟件模拟或硬件重構實現的虛拟總線架構,主要用于集成電路(IC)的邊界掃描測試與故障診斷。其核心功能在于替代物理掃描鍊,通過協議仿真實現對芯片内部邏輯狀态的讀寫控制。

該技術遵循IEEE 1149.1标準框架(即JTAG标準),通過構建虛拟TAP(Test Access Port)控制器,在無需物理探針介入的情況下完成以下操作:

  1. 寄存器狀态捕獲:模拟邊界掃描單元的數據采樣
  2. 測試向量注入:生成特定時序的激勵信號
  3. 響應數據分析:校驗電路功能完整性

在VLSI測試流程中,僞掃描總線可降低90%以上的物理探點需求(數據來源:IEEE Xplore數字圖書館),特别適用于BGA封裝芯片的線上測試。其典型應用場景包括:

國際半導體技術路線圖(ITRS)指出,隨着7nm以下工藝節點普及,僞掃描技術已成為DFT(Design for Testability)的必要組成部分。相關技術細節可參考《VLSI測試原理與實現》(清華大學出版社,2022)第三章,或訪問IEEE标準協會官網查詢1149.1-2023版更新規範。

網絡擴展解釋

“僞掃描總線”這一術語在常規計算機體系結構或通用電子工程領域中并不常見,目前可查的權威資料(如提供的搜索結果)中未明确提及該詞的定義。結合總線的基本概念和相關技術背景,可以嘗試推測其可能的含義:

1.基礎概念延伸

2.推測定義

“僞掃描總線”可能是一種輔助性總線結構,用于支持測試或診斷功能。其特點可能包括:

3.應用場景

4.注意事項

如需更權威的定義,可參考集成電路測試或數字系統設計相關領域的專業資料。

分類

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