
【电】 grid filament capacity
bar
a threadlike thing; a tiny bit; silk; thread
【医】 fila; filament; filamentum; filum; silk; wire
【经】 silk
capacitance; electric capacity
【计】 C
【化】 capacitance; capacity; electric capacity
【医】 capacitance; electric capacity
栅丝电容(Grid-to-Cathode Capacitance)是电子工程领域的重要术语,特指电子管中栅极与阴极之间的寄生电容。该电容由栅极金属丝与阴极表面之间的电荷积累形成,其大小取决于两者间距、材料介电常数及几何结构,通常以符号 $C_{gk}$ 表示。该参数直接影响电子管的高频响应特性,例如在放大器电路中,过高的栅丝电容会导致信号相位偏移和增益衰减。
从结构上看,栅丝电容包含两部分:栅极与阴极的直接电容($C{gk1}$)以及通过管壳介质耦合的间接电容($C{gk2}$)。其数学表达式可简化为: $$ C{gk} = C{gk1} + C{gk2} $$ 这一特性在射频电路设计中尤为重要,设计手册建议将$C{gk}$控制在1-5 pF范围内以优化高频性能(参考:IEEE电子器件标准手册)。
权威研究指出,栅丝电容过大会引发米勒效应,导致高频信号失真。美国无线电工程师协会(IRE)在《真空管设计准则》中强调,采用网状栅极结构和氧化涂层阴极可有效降低$C_{gk}$值。实际应用案例可见于早期雷达发射管与现代Hi-Fi音响功放电路。
“栅丝电容”这一术语在常规电子学中并不属于标准专业词汇,但可以结合电容的基本原理和“栅丝”的结构特点进行解释:
基础概念解析
可能的实际应用场景
技术特性说明
建议:若该术语来自特定领域文献,需结合上下文进一步分析。在电路设计中遇到类似结构时,建议使用阻抗分析仪实测寄生电容参数。
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