
【電】 grid filament capacity
bar
a threadlike thing; a tiny bit; silk; thread
【醫】 fila; filament; filamentum; filum; silk; wire
【經】 silk
capacitance; electric capacity
【計】 C
【化】 capacitance; capacity; electric capacity
【醫】 capacitance; electric capacity
栅絲電容(Grid-to-Cathode Capacitance)是電子工程領域的重要術語,特指電子管中栅極與陰極之間的寄生電容。該電容由栅極金屬絲與陰極表面之間的電荷積累形成,其大小取決于兩者間距、材料介電常數及幾何結構,通常以符號 $C_{gk}$ 表示。該參數直接影響電子管的高頻響應特性,例如在放大器電路中,過高的栅絲電容會導緻信號相位偏移和增益衰減。
從結構上看,栅絲電容包含兩部分:栅極與陰極的直接電容($C{gk1}$)以及通過管殼介質耦合的間接電容($C{gk2}$)。其數學表達式可簡化為: $$ C{gk} = C{gk1} + C{gk2} $$ 這一特性在射頻電路設計中尤為重要,設計手冊建議将$C{gk}$控制在1-5 pF範圍内以優化高頻性能(參考:IEEE電子器件标準手冊)。
權威研究指出,栅絲電容過大會引發米勒效應,導緻高頻信號失真。美國無線電工程師協會(IRE)在《真空管設計準則》中強調,采用網狀栅極結構和氧化塗層陰極可有效降低$C_{gk}$值。實際應用案例可見于早期雷達發射管與現代Hi-Fi音響功放電路。
“栅絲電容”這一術語在常規電子學中并不屬于标準專業詞彙,但可以結合電容的基本原理和“栅絲”的結構特點進行解釋:
基礎概念解析
可能的實際應用場景
技術特性說明
建議:若該術語來自特定領域文獻,需結合上下文進一步分析。在電路設計中遇到類似結構時,建議使用阻抗分析儀實測寄生電容參數。
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