
【电】 thermionic grid emission
thermion
【化】 thermion
【医】 thermion
grid
【化】 grid
launch; discharge; shoot; project; eradiate; let fly; transmit
【医】 emission
热离子栅极发射(Thermionic Grid Emission)是电子器件领域的重要物理现象,指在真空电子器件中,受热激发的电子从栅极表面逸出并形成电流的过程。其核心机制基于金属材料受热后内部电子动能增加,克服功函数势垒进入真空环境。该现象与理查森-杜什曼公式直接相关,电流密度可表示为:
$$
J = A T e^{-W/(kT)}
$$
其中$J$为发射电流密度,$T$为绝对温度,$W$为材料功函数,$k$为玻尔兹曼常数,$A$为材料常数。
在工程应用中,该效应常见于早期三极真空管的栅极设计,当栅极温度异常升高时可能产生非受控电子流,导致器件工作失真。现代半导体器件通过材料优化(如钨钍合金)和结构改进,已显著降低此类寄生发射。
根据麻省理工学院《固态电子学导论》的论述,栅极功函数与温度系数的匹配设计是控制热离子发射的关键参数。美国物理学会期刊《Applied Physics Letters》近年研究显示,纳米结构栅极表面可将有效功函数降低0.5-1.2 eV,为新型热管理方案提供理论支持。
“热离子栅极发射”是一个涉及电子器件物理学的术语,结合了热离子效应和栅极结构的作用。以下是对其的详细解释:
根据术语组合,可能指以下两种情景:
情景一:传统器件中的异常现象
在常规真空管中,栅极本不参与电子发射(由阴极负责)。若栅极因过热或材料特性意外产生热离子发射,可能干扰器件工作(如电流失控)。
情景二:新型器件的设计原理
某些先进器件可能故意将栅极设计为热离子发射源,例如:
热离子发射的电子流密度(( J ))由理查德森-德西曼公式描述: $$ J = A T e^{-frac{W}{k T}} $$ 其中:
若栅极参与发射,需额外考虑其温度、材料功函数及与阴极的电场相互作用。
由于未搜索到具体文献,以上解释基于热离子发射和栅极功能的常规知识推测。如需准确技术细节,建议查阅电子器件物理学或相关专利文献。
埃威逊记法的氨性尿玻尔氏效应不等压涡轮机部位解剖学层次式分布机器人控制系统穿刺放液法电铸法非法组织疯女芬克氏试验复位引线过度地国际税法恒等矩阵花色肩胛下区交换的急剧制动谨防漏气颈前囟径急需征购奎诺瓦廷离子计帽状腱膜下的尿着色合剂破产意图贪氧的同步位推挽电路