光學常數英文解釋翻譯、光學常數的近義詞、反義詞、例句
英語翻譯:
【計】 optical constant
分詞翻譯:
光學的英語翻譯:
optics
【化】 optics
【醫】 optics; photology
常數的英語翻譯:
constant; invariable
【計】 C
【化】 constant
【醫】 constant
【經】 constant
專業解析
光學常數(Optical Constants)是描述材料與電磁波(特别是光波)相互作用的核心物理參數,主要包含折射率(Refractive Index) 和消光系數(Extinction Coefficient),二者共同構成複折射率(Complex Refractive Index)。其定義與應用如下:
1. 基本定義與數學表達
-
複折射率((tilde{n})):
[
tilde{n} = n + ikappa
]
- (n)(折射率):表示光在介質中的傳播速度相對于真空的變化((n = c/v)),決定光的相位延遲和反射/折射角度。
- (kappa)(消光系數):表征光在介質中傳播時的能量衰減(吸收),與吸收系數(alpha)的關系為(alpha = frac{4pikappa}{lambda})((lambda)為波長)。
-
介電函數((tilde{epsilon})):
[
tilde{epsilon} = epsilon_1 + iepsilon_2 = (n + ikappa)
]
其中實部(epsilon_1)關聯極化響應,虛部(epsilon_2)表征能量損耗。
2. 核心物理意義
參數 |
物理意義 |
典型應用場景 |
折射率 ((n)) |
決定光速變化、斯涅爾定律折射角度、菲涅爾反射率 |
透鏡設計、光學塗層、波導器件 |
消光系數 ((kappa)) |
量化材料吸收光能的能力,與吸收光譜直接相關 |
太陽能電池、光電探測器、光譜分析 |
介電函數 ((tilde{epsilon})) |
連接電磁場與材料微觀響應(如電子躍遷、晶格振動) |
半導體材料表征離激元研究 |
3. 關鍵應用領域
- 材料科學:通過光譜橢偏儀測量光學常數,分析薄膜厚度、能帶結構(如Si、GaAs的帶隙)。
- 光電子器件:設計激光器、光調制器需精确控制材料的(n)和(kappa)(例:矽光子學芯片)。
- 遙感與成像:大氣顆粒物光學常數用于氣候模型(如氣溶膠吸收特性)。
- 生物醫學:組織光學常數(如血紅蛋白吸收)優化激光治療與光學診斷設備。
4. 權威數據來源與參考文獻
- 美國國家标準與技術研究院(NIST):
光學常數數據庫 提供數百種材料的(n, kappa)光譜數據。
- 《光學手冊》(CRC Press):
系統闡述光學常數理論模型(如Kramers-Kronig關系)與測量方法。
- 中科院上海光機所:
發布激光材料光學參數庫,涵蓋紅外至紫外波段。
- 《Applied Optics》期刊:
定期刊載光學常數測量新技術(如寬光譜橢偏術)。
5. 實際案例說明
- 矽(Si)在紅外波段:(n approx 3.5), (kappa approx 0)(低吸收),適用于紅外透鏡;
- 金(Au)在可見光波段:(kappa)值高(強吸收),用于表面等離激元共振傳感器設計。
光學常數的精确測定與建模是現代光學工程、材料研發及量子技術發展的基石,其數據權威性直接關聯器件性能與理論驗證可靠性。
網絡擴展解釋
光學常數是描述材料與光相互作用的核心參數,主要用于表征光在介質中傳播時的折射、吸收等特性。以下是關鍵解釋:
一、基本定義
光學常數通常指複折射率的兩個組成部分:
- 折射率(n):表示光在介質中的傳播速度相對于真空的減慢比例,公式為 $n = c/v$($c$為真空中光速,$v$為介質中光速)。
- 消光系數(k):反映光在介質中傳播時的能量衰減程度,與吸收相關。複折射率可表示為 $N = n - ik$。
二、相關參數
- 吸收系數(α):描述光強隨傳播距離的衰減,公式為 $I = I_0 e^{-alpha x}$,其中 $alpha = 4πk/λ$($λ$為波長)。
- 反射系數(R)與透射系數(T):由折射率決定界面處的反射和透射能量比例,滿足 $T = 1 - R$。
三、物理意義
- n的作用:決定光的相位延遲和傳播方向(如折射現象)。
- k的作用:表征材料對光的吸收能力,k值越大,光衰減越快。
四、應用領域
- 光學薄膜設計:通過調控n和k實現增透、反射等功能。
- 半導體器件:分析光吸收特性(如太陽能電池)。
- 材料分析:判斷非透明物質的能量反射與吸收效率。
五、其他說明
- 光學常數具有波長依賴性(色散現象),需針對不同波段測量。
- 對于特殊材料(如超材料),還需考慮磁導率等參數。
如需更深入的公式推導或實驗測定方法,可參考光學教材或專業文獻。
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