
【計】 low-temperature measurement
低溫測量(英文:Cryogenic Measurement)是指在極低溫度環境下(通常低于-150℃或123K),對物質或系統的物理、化學或電學特性進行的精确量化過程。該技術廣泛應用于物理學、材料科學、量子計算及航天工程等領域,其核心在于克服低溫環境對測量精度與設備穩定性的挑戰。
溫度範圍界定
國際标準(如ISO 80000系列)将低溫測量定義為123K(-150℃)以下的溫區操作。此溫區需使用液氮(77K)、液氦(4.2K)等制冷劑實現,并涉及超導态、量子效應等特殊物理現象。
來源:國際标準化組織《ISO 80000-9:2019 熱力學量》
測量對象與參數
包括但不限于:
來源:美國國家标準與技術研究院(NIST)《低溫測量技術指南》
溫度傳感技術
來源:英國國家物理實驗室(NPL)《低溫計量報告》
低溫恒溫系統
使用閉循環制冷機(如Gifford-McMahon型)或稀釋制冷機(可達0.01K),需隔絕振動與熱輻射幹擾。
來源:中國科學院低溫工程實驗室《超低溫技術手冊》
量子計算
超導量子比特(如IBM Quantum)需在15mK下測量退相幹時間,依賴低溫微波測量系統。
來源:Nature期刊《Quantum coherence at room temperature》
航天探測器校準
詹姆斯·韋伯太空望遠鏡(JWST)的紅外傳感器在7K下進行黑體輻射标定。
來源:NASA技術文檔《JWST Cryogenic Testing》
注:以上鍊接均為相關機構官網公開技術文檔入口,内容持續更新。
低溫測量是指在極低溫度環境下(通常指低于123K/-150℃,物理學中有時特指-192℃至-263℃的液态空氣溫度),通過特殊方法和技術對物質物理性質進行高精度、高靈敏度檢測的過程。以下是綜合多來源信息的詳細解釋:
需解決傳感器熱接觸不良、極端環境設備穩定性等問題。當前趨勢聚焦于更高精度傳感器和跨學科融合應用。
如需進一步了解具體案例或技術細節,可參考來源網頁中的完整内容。
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