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電荷儲存晶體管英文解釋翻譯、電荷儲存晶體管的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【電】 charge-stroage transistor

分詞翻譯:

電荷的英語翻譯:

charge; electric charge; electricity
【化】 electric charge
【醫】 charge

儲存的英語翻譯:

garner; lay in; store
【電】 storage

晶體管的英語翻譯:

transistor
【計】 MOS transistor; npn
【化】 transistor

專業解析

電荷儲存晶體管(Charge Storage Transistor),英文全稱為Charge Storage Transistor,是一種利用特定結構存儲電荷以調制溝道電流的半導體器件。其核心功能在于通過控制栅極下方絕緣層中捕獲的電荷量,實現溝道導電性的非易失性或半永久性改變,是構建非易失性存儲器(如閃存)的關鍵單元。

核心原理與結構

  1. 電荷存儲機制:

    • 區别于普通MOSFET通過栅壓直接調控溝道,電荷儲存晶體管在栅極與溝道之間增設了電荷存儲層(如浮栅或電荷陷阱層)。
    • 通過施加高電壓(編程/擦除操作),電荷(通常是電子)被注入并存儲在電荷存儲層中(例如通過熱電子注入或Fowler-Nordheim隧穿效應)。
    • 存儲的電荷會屏蔽或增強栅極電場對溝道的控制,從而改變器件的阈值電壓(Vth),實現信息(“0”或“1”)的存儲。
  2. 主要類型:

    • 浮栅晶體管 (Floating Gate Transistor):電荷存儲在由絕緣層(如SiO₂)完全包圍的導電多晶矽浮栅中。浮栅與外界無直接電連接,電荷洩漏極小,數據保持時間長(可達10年以上)。這是早期EEPROM和NOR/NAND閃存的基礎結構。
    • 電荷俘獲型晶體管 (Charge-Trapping Transistor):電荷存儲在絕緣介質中的深能級陷阱内(如氮化矽層)。代表性結構有SONOS (Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon) 和TANOS (TaN-Al₂O₃-Nitride-Oxide-Silicon)。其優勢在于更薄的等效氧化層厚度、更低的編程電壓和更好的抗穿通能力。

工作模式

  1. 編程 (Program):向栅極施加高正電壓(對N溝道器件),将電子注入電荷存儲層,使器件Vth升高。存儲狀态通常代表“0”。
  2. 擦除 (Erase):向源極、漏極或襯底施加高電壓(或栅極加負壓),将電子從電荷存儲層移除,使器件Vth降低。存儲狀态通常代表“1”。
  3. 讀取 (Read):施加介于編程态和擦除态Vth之間的栅壓,通過檢測源漏電流的大小來判斷存儲狀态(“0”或“1”)。

應用領域

電荷儲存晶體管是現代非易失性存儲技術的基石:

權威參考來源

網絡擴展解釋

電荷儲存晶體管(Charge-Storage Transistor)是一種具有電荷存儲功能的半導體器件,其核心特點在于能夠通過特定結構暫時保存電荷。以下是詳細解釋:

1. 術語構成解析

2. 功能特性

與普通晶體管相比,電荷儲存晶體管在以下方面具有特殊性:

3. 技術背景

普通晶體管主要依賴載流子遷移實現信號處理,而電荷儲存型器件結合了存儲單元與放大功能,這種設計在提到的半導體物理基礎上,通過材料或結構創新實現電荷滞留。


注:該術語屬于專業電子工程詞彙,實際應用中需結合具體電路設計文檔。如需更詳細技術參數,建議查閱集成電路設計手冊或存儲器件相關文獻。

分類

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