
【化】 equal inclination fringes
等傾條紋(Equidensity Fringes)是光學幹涉現象中的一種特殊圖樣,指由兩束相幹光在特定入射角度下疊加形成的明暗交替條紋。其英文術語"Equidensity Fringes"源于拉丁詞根"aequi"(相等)與"densitas"(密度),直觀描述條紋的等間距特性。
從物理機制分析,等傾條紋的形成遵循薄膜幹涉原理。當單色光以固定入射角照射透明薄膜時,上下表面反射光的光程差Δ滿足: $$ Δ = 2ndcosθ $$ 其中n為介質折射率,d為膜厚,θ為折射角。當光程差為半波長的奇數倍時産生相消幹涉,形成暗條紋。
實驗觀測需滿足三項條件:① 使用擴展光源保證多角度入射光;② 設置平行平面薄膜結構;③ 采用透鏡系統聚焦幹涉光束。這種現象在牛頓環實驗中尤為典型,美國光學學會(OSA)的《應用光學》期刊記載其可用于納米級膜厚測量。
權威參考資料:
等傾條紋是光學幹涉中的一種現象,常見于薄膜幹涉實驗。以下是其詳細解釋:
等傾條紋是指具有相同入射傾角的光線經薄膜上下表面反射後,在特定位置形成的幹涉條紋。這些條紋的級次由光程差決定,而光程差與入射角相關。
特征 | 等傾條紋 | 等厚條紋 |
---|---|---|
形成條件 | 薄膜厚度均勻,傾角變化 | 薄膜厚度變化,入射角固定 |
條紋形狀 | 同心圓環(内疏外密) | 平行直線或曲線(如牛頓環) |
光程差決定因素 | 入射角($Delta L = 2nhcos i$) | 薄膜厚度($Delta L = 2nh$) |
等傾條紋是研究薄膜幹涉的重要現象,其形成依賴于入射角的變化,廣泛應用于光學測量和儀器校準中。如需進一步了解實驗操作或公式推導,可參考相關教材或光學實驗手冊。
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