電探針英文解釋翻譯、電探針的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 electric probe

分詞翻譯：

電的英語翻譯：

electricity
【計】 telewriting
【化】 electricity
【醫】 Elec.; electricity; electro-; galvano-

探針的英語翻譯：

bougie; probe; stylet
【計】 needle
【化】 probe
【醫】 probe

專業解析

電探針（Electric Probe）是一種用于測量電場、電勢或電流分布的精密傳感器裝置，廣泛應用于電子工程、材料科學和半導體測試領域。以下是其詳細解釋：

一、術語定義與核心功能

中文定義：電探針指通過物理接觸或非接觸方式，探測目标區域電場強度、電勢差或電流密度的電極裝置。其核心功能是将電學量轉換為可測量的信號。
英文對應術語：
- Electric Probe（通用術語）
- Voltage Probe（側重電壓測量）
- Current Probe（側重電流測量）
  來源：《IEEE電氣與電子術語标準詞典》第7章

二、工作原理與技術特性

接觸式探針
通過金屬針尖直接接觸被測物表面（如集成電路引腳），利用歐姆定律（$V=IR$）測量局部電壓或電流。典型應用包括半導體晶圓測試中的四探針法（Four-Point Probing），可精确測量薄層電阻。
非接觸式探針
基于電容耦合原理（$C=frac{varepsilon A}{d}$），在不接觸導體的情況下測量表面電勢。適用于高頻電路或易損器件檢測，例如靜電電壓表（Electrostatic Voltmeter）。

三、典型應用場景

半導體制造：用于晶圓級參數測試（Wafer Testing），測量晶體管阈值電壓、漏電流等關鍵參數（參考SEMI E89标準）。
等離子體診斷：在核聚變裝置中測量等離子體電勢和電子溫度（如朗缪爾探針，Langmuir Probe）。
生物醫學工程：微電極探針用于神經電信號采集（如腦機接口技術）。

四、相關術語擴展

多探針系統（Multi-Probe System）：集成多個探針實現同步多點測量，提升測試效率
掃描電探針顯微鏡（Scanning Probe Microscopy, SPM）：結合探針與掃描機構實現納米級電學成像。

參考文獻

全國科學技術名詞審定委員會. 《電子學名詞》第三版. 科學出版社, 2018: 142.

IEEE Standard Dictionary of Electrical and Electronics Terms. IEEE Std 100-2021: 7.3.2.

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Hutchinson, I.H. Principles of Plasma Diagnostics. Cambridge University Press, 2002: 52-60.

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Bonnell, D.A. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy. Wiley-VCH, 2000: 177.

網絡擴展解釋

電探針是一種用于測量或檢測電學特性的工具，其具體定義和應用根據場景不同有所差異，以下是綜合解釋：

基礎定義

電探針屬于精密電子元器件，主要作為電測試的接觸媒介。其核心功能是通過接觸被測對象，實現電流導通、信號傳輸或參數測量。

主要類型與功能

材料電學性質分析
在材料科學領域，電探針通常由雙探針構成（一接觸材料、一遠離材料），通過測量電場變化獲取材料的電阻率、電導率等參數。
電子元件與電路檢測
- 用于檢測電子元件（如IC芯片、PCB闆）的電流、電壓及信號活動，輔助研發、維修和故障診斷。
- 常見類型包括穿能式探針（微小信號分析）和摩擦式探針（高頻信號檢測）。
大電流測試場景
大電流探針可承載高達50A的電流，應用于電源適配器、電池組等設備的測試，确保電流傳輸穩定性，并能定位電路短路或元件損壞等故障。

典型應用領域

材料研究：分析導電性能、介電常數等。
電子制造：PCBA測試、連接器檢測（如手機屏幕、攝像頭模組）。
工業維護：診斷電路故障，測量溫度及信號異常。

技術特點

高精度：支持微米級信號檢測（最小pitch達0.15mm）。
穩定性：長期使用仍保持可靠連接，尤其適合重複測試需求。

如需更完整信息，可參考相關行業報告或技術手冊（來源：-7）。