
【計】 sense amplifier gate
【計】 read amplifier; sense amplifier; sensor amplifier
class; door; gate; gateway; ostium; phylum; school
【計】 gate
【醫】 binary division; hili; hilum; hilus; phylum; pore; Pori; porta; portae
portal; porus; pyla
【經】 portal
"讀出放大器門"在電子工程領域是組合型專業術語,其英文對應為"sense amplifier gate",由兩個核心部件構成:
讀出放大器(sense amplifier) 作為存儲器電路的核心組件,通過差分放大技術檢測存儲單元(如DRAM或SRAM)的微小電壓差。其靈敏度可達微伏級别,典型結構包含交叉耦合晶體管對和電流鏡負載。
邏輯門(gate circuit) 此處特指控制信號通斷的MOSFET開關陣列,采用CMOS工藝實現布爾邏輯運算。根據IEEE标準JESD21-C規範,門級電路延遲時間與晶體管溝道長度呈平方關系。
該複合結構主要應用于:
技術參數參考: $$t_{pd} = frac{CLV{DD}}{I{DSAT}}$$ 式中$t{pd}$為傳播延遲,$CL$為負載電容,$V{DD}$為電源電壓,$I_{DSAT}$為晶體管飽和電流。
權威參考文獻: 《超大規模集成電路設計基礎》高等教育出版社 IEEE Transactions on Circuits and Systems I TSMC 22nm工藝設計手冊 國際固态電路會議(ISSCC)技術報告
“讀出放大器門”是一個涉及電子工程和計算機硬件的專業術語,結合了“讀出放大器”和“門電路”的功能。以下是詳細解釋:
“讀出放大器門”是一個集成邏輯控制和信號放大的功能模塊,通過門電路精确控制讀出放大器的工作時機,廣泛應用于需要高精度信號處理的電子系統中。
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