離子散射能譜學英文解釋翻譯、離子散射能譜學的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 ion scattering spectroscopy; ISS

分詞翻譯：

離子散射能譜的英語翻譯：

【化】 ion scattering spectroscopy; ISS

學的英語翻譯：

imitate; knowledge; learn; mimic; school; study; subject of study

專業解析

離子散射能譜學（Ion Scattering Spectroscopy, ISS）是一種基于離子與物質表面原子相互作用原理的表面分析技術。其核心是通過測量入射離子束與樣品表面原子碰撞後的能量分布，獲取表面單層元素的定性與定量信息，以及結構特征。以下是其核心要點：

一、基本原理

當低能離子（通常為惰性氣體離子如 He⁺、Ne⁺）以特定角度入射到材料表面時，會與表層原子發生彈性碰撞。散射離子的能量損失與靶原子的質量直接相關，遵循經典二體碰撞動力學公式： $$ frac{E_1}{E_0} = left( frac{cos theta + sqrt{mu - sin theta}}{1 + mu} right) $$ 其中 $E_0$ 為入射能量，$E_1$ 為散射能量，$theta$ 為散射角，$mu = M_2 / M_1$（$M_1$ 為入射離子質量，$M_2$ 為靶原子質量）。通過測量 $E_1$ 即可反推靶原子質量。

二、核心參數與技術特點

表面敏感性
僅探測最表層（1–2 個原子層），因離子與次表層原子碰撞概率極低。

元素鑒别能力
能量譜峰位置直接對應靶原子質量，適用于除氫、氦外的所有元素。

定量分析
散射離子強度與表面原子濃度成正比，可實現半定量分析。

三、典型應用領域

材料表面成分分析
用于催化劑活性位點表征、合金表面偏析研究等。

薄膜生長監控
實時監測外延薄膜的覆蓋度與界面擴散。

吸附構型解析
結合散射角變化，可推斷吸附分子的取向與鍵合位點。

四、中英術語對照

中文術語	英文術語
離子散射能譜學	Ion Scattering Spectroscopy (ISS)
散射角	Scattering Angle
能量損失譜	Energy Loss Spectrum
表面單層靈敏度	Monolayer Sensitivity

權威參考文獻：

美國國家标準技術研究院（NIST）表面分析技術指南 ↗
英國國家物理實驗室（NPL）材料表征手冊 ↗
劍橋大學材料系表面分析課程講義 ↗

網絡擴展解釋

離子散射能譜學（Ion Scattering Spectroscopy, ISS）是一種通過分析離子與材料表面原子彈性散射後的能量分布，來研究表面成分和結構的分析技術。以下是其核心要點：

1. 基本原理

離子束（如He⁺、H⁺等）轟擊材料表面時，與表層原子發生彈性碰撞，散射離子的能量損失與靶原子的質量相關。根據能量和動量守恒定律，散射離子能量 (E) 與初始能量 (E_0) 的關系為： $$ frac{E}{E_0} = left[ frac{(M_2 - M_1 sintheta)^{1/2} + M_1 costheta}{M_1 + M_2} right] $$ 其中，(M_1) 為入射離子質量，(M_2) 為靶原子質量，(theta) 為散射角。當 (theta=90^circ) 時，公式簡化為 (frac{E}{E_0} = frac{M_2 - M_1}{M_2 + M_1})。

2. 技術分類

低能離子散射譜（ISS）：
使用能量為100 eV至幾千 eV的離子（如He⁺），主要用于分析表面單層元素（1~2個原子層），可檢測除H、He外的所有元素及同位素。
高能離子散射譜（RBS）：
采用能量為25 keV至數 MeV的離子（如H⁺），通過背散射分析更深層（微米級）成分，常用于晶體缺陷和界面研究。

3. 核心特點

表面敏感性：僅探測最表層原子，適合表面吸附、氧化層等研究。
元素識别：通過能量損失譜峰直接對應靶原子質量，實現元素定性和半定量分析。
非破壞性：低能條件下對樣品損傷較小。

4. 典型應用

材料科學：分析薄膜成分、表面污染及界面結構。
半導體工業：檢測晶圓表面雜質和缺陷。
催化研究：表征催化劑表面活性位點。

5. 局限性

無法檢測輕元素（如H、He）；
定量分析需标樣校準；
高能RBS需單晶樣品以利用溝道效應。

通過結合低能和高能技術，離子散射能譜學在表面科學和材料分析中具有不可替代的作用。