同位穿孔檢查系統英文解釋翻譯、同位穿孔檢查系統的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 Batten system

分詞翻譯：

同位的英語翻譯：

parity
【化】 in site
【醫】 interoposition

穿孔的英語翻譯：

bore a hole; perforate; stave
【計】 punched hole; punching
【醫】 fenestration; perforate; perforation; tresis

檢查系統的英語翻譯：

【計】 check system; checkout system

專業解析

同位穿孔檢查系統（Isotope Perforation Inspection System）是一種基于同位素示蹤技術實現的精密檢測方法，主要用于工業制造、材料科學及安全檢測領域。其核心原理是利用放射性同位素（如钴-60或铯-137）釋放的γ射線穿透被測物體，通過傳感器接收衰減後的射線強度，分析物體内部結構是否存在缺陷或異常穿孔現象。

該系統包含三大模塊：1）同位素源發射裝置，負責生成穩定射線束；2）高精度探測器陣列，捕捉穿透物體的射線信號；3）數據分析單元，采用斷層掃描算法重構物體三維圖像。在航空航天領域，該技術被用于檢測發動機葉片微孔結構；在輸油管道工程中，可識别厚度小于0.1mm的腐蝕穿孔。

根據國際原子能機構（IAEA）技術報告，同位穿孔檢查系統的測量誤差可控制在±0.05mm以内，顯著優于傳統X光檢測方法。美國材料試驗協會（ASTM）E94标準明确規定了該系統的校準規範及安全操作流程。

網絡擴展解釋

同位穿孔檢查系統是一種早期的數據處理技術，主要用于通過卡片穿孔位置的匹配進行數據校驗或檢索。以下是詳細解釋：

基本定義
該系統英文名稱為Batten system或peek-a-boo system，屬于計算機術語，核心原理是通過在多張卡片的相同位置（同位）穿孔來實現信息匹配。例如，當多張卡片疊加時，穿孔位置透光即表示特定條件成立。
應用場景
- 數據校驗：通過檢查同位穿孔是否對齊，驗證數據的準确性，如“batten check”指代此類校驗方法。
- 信息檢索：在早期大型計算機中，疊加穿孔卡片後，透光位置可快速定位目标數據，類似“視覺檢查”（sight check）。
技術特點
- 每張卡片的穿孔代表特定屬性或字段，疊加後透光位置反映數據關聯性。
- 需配合專用設備（如燈光或機械探針）實現物理檢測，屬于機械式數據處理技術。
曆史背景
該系統多見于20世紀中期的計算機系統，隨着電子存儲技術發展逐漸被淘汰，但仍是計算機發展史上的重要裡程碑。

如需進一步了解具體操作流程或技術細節，可參考計算機曆史相關文獻或早期數據處理手冊。