同位穿孔检查系统英文解释翻译、同位穿孔检查系统的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 Batten system

分词翻译：

同位的英语翻译：

parity
【化】 in site
【医】 interoposition

穿孔的英语翻译：

bore a hole; perforate; stave
【计】 punched hole; punching
【医】 fenestration; perforate; perforation; tresis

检查系统的英语翻译：

【计】 check system; checkout system

专业解析

同位穿孔检查系统（Isotope Perforation Inspection System）是一种基于同位素示踪技术实现的精密检测方法，主要用于工业制造、材料科学及安全检测领域。其核心原理是利用放射性同位素（如钴-60或铯-137）释放的γ射线穿透被测物体，通过传感器接收衰减后的射线强度，分析物体内部结构是否存在缺陷或异常穿孔现象。

该系统包含三大模块：1）同位素源发射装置，负责生成稳定射线束；2）高精度探测器阵列，捕捉穿透物体的射线信号；3）数据分析单元，采用断层扫描算法重构物体三维图像。在航空航天领域，该技术被用于检测发动机叶片微孔结构；在输油管道工程中，可识别厚度小于0.1mm的腐蚀穿孔。

根据国际原子能机构（IAEA）技术报告，同位穿孔检查系统的测量误差可控制在±0.05mm以内，显著优于传统X光检测方法。美国材料试验协会（ASTM）E94标准明确规定了该系统的校准规范及安全操作流程。

网络扩展解释

同位穿孔检查系统是一种早期的数据处理技术，主要用于通过卡片穿孔位置的匹配进行数据校验或检索。以下是详细解释：

基本定义
该系统英文名称为Batten system或peek-a-boo system，属于计算机术语，核心原理是通过在多张卡片的相同位置（同位）穿孔来实现信息匹配。例如，当多张卡片叠加时，穿孔位置透光即表示特定条件成立。
应用场景
- 数据校验：通过检查同位穿孔是否对齐，验证数据的准确性，如“batten check”指代此类校验方法。
- 信息检索：在早期大型计算机中，叠加穿孔卡片后，透光位置可快速定位目标数据，类似“视觉检查”（sight check）。
技术特点
- 每张卡片的穿孔代表特定属性或字段，叠加后透光位置反映数据关联性。
- 需配合专用设备（如灯光或机械探针）实现物理检测，属于机械式数据处理技术。
历史背景
该系统多见于20世纪中期的计算机系统，随着电子存储技术发展逐渐被淘汰，但仍是计算机发展史上的重要里程碑。

如需进一步了解具体操作流程或技术细节，可参考计算机历史相关文献或早期数据处理手册。