电子探针微量分析英文解释翻译、电子探针微量分析的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【机】 electron probe microanalysis

分词翻译：

电子的英语翻译：

electron
【化】 electron
【医】 e.; electron

探针的英语翻译：

bougie; probe; stylet
【计】 needle
【化】 probe
【医】 probe

微量分析的英语翻译：

microanalysis
【化】 microanalysis
【医】 microanalysis

专业解析

电子探针微量分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一种基于电子束与物质相互作用的精密分析技术，主要用于测定固体材料中微小区域的元素组成和分布特征。其核心原理是通过聚焦的高能电子束轰击样品表面，激发出特征X射线，再通过波长色散谱仪（WDS）或能量色散谱仪（EDS）进行元素定性与定量分析。

该技术由法国科学家Raimond Castaing于1951年首次提出，其英文术语"Electron Probe Microanalysis"在《牛津材料科学词典》中被定义为："A technique for determining the composition of small regions of a solid specimen using a focused electron beam."（通过聚焦电子束测定固体样品微小区域成分的技术）。中文表述强调"微量"特性，指其分析区域可精确至1微米量级，检测限可达百万分之一（ppm）级别。

在应用层面，电子探针微量分析已广泛应用于地质学（矿物成分鉴定）、材料科学（合金相分析）和半导体工业（缺陷检测）等领域。美国国家标准与技术研究院（NIST）的研究表明，该方法对主量元素的检测精度可达±1%相对误差。其技术优势在于可进行非破坏性、原位多元素同步分析，但需注意其对样品导电性和表面平整度的特殊要求。

网络扩展解释

电子探针微量分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一种结合显微成像与化学成分分析的微区分析技术，主要用于材料科学、地质学等领域的高精度元素检测。以下是其核心要点：

1.定义与原理

定义：通过聚焦的高能电子束（直径约0.1–1 μm）轰击样品表面，激发出特征X射线，以此分析微米级区域内元素的种类和含量。
原理：电子束与样品相互作用时，元素原子被激发产生特征X射线。通过测量X射线的波长（波谱仪）或能量（能谱仪）进行定性分析；通过强度测量实现定量分析，相对精度可达±1–5%。

2.仪器结构与功能

核心组件：
- 电子光学系统：提供高能电子束（加速电压30–50 kV），确保束斑微小且稳定。
- 信号检测系统：分为波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS），前者分辨率高，后者分析速度快。
- 样品室：支持原位分析，可直接观察样品形貌与成分的对应关系。

3.核心特点

微区分析：分析区域小至微米甚至纳米级别，适合研究材料的局部成分差异。
非破坏性：无需破坏样品，可重复检测同一区域。
高精度定量：通过标准样品校准，可实现多元素同时定量分析。

4.应用领域

材料科学：分析合金、陶瓷等材料的元素分布及相组成。
地质学：矿物成分鉴定与成因研究。
半导体工业：检测芯片中微量杂质元素。

5.局限性

轻元素分析困难：对原子序数低于镁（Z=12）的元素灵敏度较低。
样品要求严格：需表面平整，避免粗糙度影响X射线信号强度。

如需进一步了解具体操作或案例分析，可参考科学指南针或高权威文献。